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産業利用に役立つXAFSによる先端材料の局所状態解析2009
テキスト 題目 PDF file 作成者
3d遷移金属のX線吸収スペクトルのプレエッジピークについて 1.36MB 山本 孝 (京都大学)
放射光(XAFS)と中性子を中和的に利用した構造分析 1.14MB 中川 貴 (東京工業大学)
FEFFを利用したデータの解析の実際 1.58MB 中川 貴 (東京工業大学)
フリーウェアAthenaによる動径構造関数の導出(Cu箔の解析) 2.96MB 本間 徹生 (JASRI)
フリーウェアArtemisとFEFF(Ver.6)を利用したカーブフィッティング(ZnO結晶の解析) 2.27MB 本間 徹生 (JASRI)

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