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2001.9.25

SPring-8講習会

「材料評価と放射光の利用」(第5回)

主 催:(財)高輝度光科学研究センター(JASRI)
日 時:2001年11月7日(水) 9:30〜17:30
会 場:(財)日本教育会館 8F 第2会議室(805)
東京都千代田区一ツ橋2-6-2 Tel:03-3230-283
後 援:SPring-8利用推進協議会

  X線分析は非破壊分析法として、基礎科学から産業応用にわたる広い分野で利用でき、半導体、金属、セラミック、高分子や生体を含む、あらゆる物質のミクロな構造と機能の解明、新材料の開発に適用されつつあります。さらに近年、高輝度で指向性の強い光、シンクロトロン放射光がX線域における高品質な光源として利用できるようになり、基礎および応用研究において大きな成果をあげていて、材料開発への適用成果が期待されています。1997年より稼働したSPring-8は、世界最高性能の第3世代放射光施設として学界および産業界に広く門戸を開いており、既に多くの共同利用が行われ、成果を上げつつあります。
 この講習会では、材料研究によく用いられるX線分析法を取り上げ、その原理と放射光利用のメリットや成果について、シンクロトロン光利用の初心者を主な対象として、経験豊富な講師の方々がわかりやすく解説します。
 SPring-8の放射光施設を利用した材料評価を、現在、ご検討中の方々など、ご関心のある多くの方々の参加を期待します。
 なお、当日、SPring-8の技術者による相談会も併設します。お気軽に声をかけてください。

プログラム
時 間 題 目 内 容 講 師
9:30
  〜10:50
1. 
あいさつ
SPring-8と放射光
 実験室X線と放射光を対比させながら、放射光発生の原理、輝度、指向性、偏光性、パルス性などの放射光の特徴を説明する。さらに世界最大級の放射光施設SPring-8の加速器、光源、ビームライン及びその他の施設の現状についての概略を説明する。 菊田 惺志
(JASRI)
質疑・応答
11:00
〜12:30
2.
XAFS分析と
その応用
 特定元素の局所構造解析法としてのX線吸収微細構造(XAFS)の原理と応用について解説する。
 原子番号と吸収端波長、周辺構造と吸収係数の微細構造、XAFS振動からの動径構造関数抽出を述べ、応用として触媒、セラミックス、薄膜などへの適用を紹介する。
渡辺 巌
(大阪大学)
質疑・応答
12:30
〜13:30
(昼    食) (放射光利用相談会)
13:30
〜15:00
3.
X線回折と
その応用
結晶構造解析法であるX線回折法の原理と応用について解説する。 
 結晶学の基礎、結晶格子によるX線の回折、粉末および単結晶の回折の測定法の概略を述べ、その応用として表面回折、トポグラフィ、応力測定法などの紹介と、半導体、金属、セラミック、高分子などへの適用事例を紹介する。
高田 昌樹
(名古屋大学)
質疑・応答
15:00
〜15:15
(コーヒーブレーク) (放射光利用相談会)
15:15
〜16:45
4.
蛍光X線分析と
その応用
 非破壊元素分析法としての蛍光X線分析の原理と応用について解説する。
 特性X線波長と原子番号、蛍光X線による元素の定量・定性分析の原理と、他の元素分析法との比較を述べる。その応用として超微量不純物の分析、元素マッピングによる生物試料分析などの具体例を紹介する。
早川 慎二郎
(広島大学)
質疑・応答
16:45
〜17:15
5.
SPring-8における
産業利用
SPring-8全般における産業利用の実績と最近の成果を紹介する。
 また、昨年度より新たな産業利用促進の取組を始めているが、その計画および現状について紹介する。
梅咲 正則
(JASRI)
質疑・応答
17:15
〜17:30
追加質問およびSpring-8利用についての質問

定 員: 70名 (聴講無料)
申込方法: 締め切りました。
当日受付もいたしますので、直接会場にお越しください。(テキストを配布できない可能性がありますがご了承ください)
FAX/e-mail 申込先: Webから申し込めない場合は、こちら(pdf)の申込用紙と同等の内容を記入の上、
e-mailあるいはFAXで申し込みして下さい。
FAX 0791-58-0948
e-mail:support@spring8.or.jp
締  切: 10月26日(金)
*当日の受付も行いますが、
テキストは事前登録者に優先的にお渡しします。
問合せ先: (財)高輝度光科学研究センター 所長室 産業利用グループ
竹内 やよい  TEL 0791-58-0947