13:00〜
13:30 |
耐摩耗性被膜の応力深さ分布解析
土屋 新(三菱マテリアル) |
| 切削工具に用いられるセラミックス被膜と超硬合金基体との界面近傍の残留応
力は被膜剥離特性に大きく影響することが知られている。放射光を用いて被膜の応力
深さ分布を測定し、界面近傍の応力状態と被膜構造、成膜条件の関係を明らかにする
ことで、被膜の耐剥離性向上を目指している。
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13:30〜
14:00 |
高平行X線マイクロビームによる半導体結晶の評価
津坂 佳幸(姫路工業大学) |
| 各種半導体デバイスには、歪みの局在が素子特性や結晶成長に影響を与えているものが少なくない。
放射光を用いて形成した高平行X線マイクロビームはこれらデバイスの評価に有用である。
講演では、このマイクロビームの形成とシリコンLSIにおける絶縁膜エッジや次世代基板のSOIウェーハーの評価結果について述べる。
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14:00〜
14:30 |
SPring-8におけるX線イメージング
梶原 堅太郎(JASRI) |
| X線によるイメージングは試料の非破壊内部観察が可能であり、
また得られる情報が直感的に理解できるため工業材料などの内部構造分布の観察に有効な手段である。
特にSPring-8の高輝度・高エネルギーのX線を用いることで、
さまざまな環境下における試料のin-situ観察が可能である。
講演ではいくつかの手法と観察例を紹介する。
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14:30〜
15:00 |
高エネルギー蛍光X線分析による陶磁器の産地推定
寺田 靖子(JASRI) |
| 我々にとって身近な存在である陶磁器を例に、放射光を用いた蛍光X線分析を紹介する。
講演では、SP-8でしか得られない高エネルギーX線による重元素の分析およびこれらの結果を利用した陶器の産地推定について述べる。
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15:00〜
15:20 |
(休 憩) |
15:20〜
15:50 |
コベルコ科研における合金材料のSR-XAFS解析
渡部 孝 (コベルコ科研) |
コベルコ科研は過去１３年間、機能材料の化学結合状態、原子・分子スケ−ルの構造解析にSR-XAFSを採用してきた。
1999年にSPring-8 BL16B2/XU （サンビ−ム）の利用が始まってからは、年間20日弱のビ−ムタイムにより、
多種多様な系への応用を進めている。本講演では対象を合金材料（Al合金、マイクロアロイ等）に絞り、構造解析例を紹介する。
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15:50〜
16:30 |
産業利用の現状と将来
古宮 聰 (JASRI) |
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16:30〜
17:00 |
佐賀県シンクロトロン光計画の現状と将来計画
岡島 敏浩 (佐賀県地域産業支援センター) |
| 佐賀県シンクロトロン光応用研究施設は、平成１６年度中の業務開始を目指し、
光源とビームラインの整備が進められている。
当施設は、シンクロトロン光の産業利用を目指した応用研究を中心に据え、
その成果を新しい産業や地域産業の高度化に活かすことを目的としている。
講演では、施設の整備状況や将来計画について紹介する。
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