■ サンビーム - BL16XU, BL16B2 |
S1 | グリコサーマル法で合成された脱硝触媒の局所構造解析 |
香川 公司 (関西電力(株)) |
S2 | X線吸収分光法による微量元素の形態分析 |
小林 誠 ((財)電力中央研究所) |
S3 | リチウムイオン二次電池オリビン正極材料のXAFS法による状態分析 |
工藤 喜弘 (ソニーEMCS(株)) |
S4 | 二次電池及び燃料電池材料の構造解析 |
三上 朗 (三洋電機(株)) |
S5 | 光ファイバ中添加元素の局所構造解析 |
飯原 順次 (住友電気工業(株)) |
S6 | 鋼板表面さび層を制御するためのSR利用研究 |
稲葉 雅之 ((株)コベルコ科研) |
S7 | シンクロトロンX線トポグラフィによる4H-SiCエピタキシャル膜の評価 |
鎌田 功穂 ((財)電力中央研究所) |
S8 | X線反射率測定によるゲート絶縁膜の構造解析 |
大森 廣文 ((株)東芝) |
S9 | 青色蛍光体BAM中、Euの化学状態分析 |
尾崎 伸司 ((株)松下テクノリサーチ) |
S10 | 全電子収量法、転換電子収量法、蛍光法によるXAFS分析深さの評価 |
三上 朗 (三洋電機(株)) |
S11 | X線微小ビームを用いた微細Cuダマシン配線の結晶粒観察 |
平井 康晴 ((株)日立製作所) |
■ 兵庫県ビームライン - BL24XU |
H1 |
硬X線顕微干渉計とゼルニケ型位相差顕微鏡による位相コントラスト像の特性比較 |
小山 貴久 (兵庫県立大学) |
H2 |
くさび型吸収体による走査型微分位相コントラスト硬X線顕微鏡の開発 |
下瀬 健一 (兵庫県立大学) |
H3 |
結像型硬X線顕微鏡を用いた顕微干渉計トモグラフィーによる断面位相計測の試み |
林 賢志 (兵庫県立大学) |
H4 |
放射光マイクロビーム蛍光X線分析法による毛髪断面の多元素定量マッピング |
和田 いづみ (兵庫県立大学) |
H5 |
高平行度マイクロビームによる局所領域歪み評価 |
冨田 直弘 (兵庫県立大学) |
H6 |
マイクロビームX線回折によるInGaAsP系半導体の評価 |
泉 弘一 (日本電気(株)) |
H7 |
大型放射光(SPring-8)を利用した黒大豆の非破壊産地判別技術 |
永井 耕介 (兵庫県立農林水産技術総合センター) |
H8 |
析出強化合金の微小構造解析 |
宮下 卓也 ((財)新産業創造研究機構) |
H9 |
電子ビーム励起プラズマ法(EBEP)により形成された窒化層の残留応力 |
劉 莉 (兵庫県立大学) |
H10 |
新兵庫県ビームラインBL08B2 |
横山 和司 (HSTA) |
H11 |
兵庫県地域結集型共同研究事業の概要 |
落合 正晴 (HSTA) |
■ トライアルユース - 共用ビームライン |
T1 |
微小角入射X線散乱法による鉄不動態皮膜の構造解析 【口頭発表あり】 |
山下 正人 (兵庫県立大学) |
T2 |
X線回折による溶接金属急冷凝固組織のin-situ観察技術の開発 【口頭発表あり】 |
米村 光治 (住友金属工業(株)) |
T3 |
レーザパルスを照射した材料の微小部残留応力分布測定 【口頭発表あり】 |
佐野 雄二 ((株)東芝) |
T4 |
極小角X線散乱法による高分子繊維構造の研究 【口頭発表あり】 |
村瀬 浩貴 ((株)東洋紡総合研究所) |
T5 |
放射光を用いた水和凝固型防水材における水和反応追跡および水和物結晶構造解析 【口頭発表あり】 |
宮下 景子 ((株)大関化学研究所) |
T6 |
磁気ディスク用PFPE潤滑剤薄膜の放射光X線による反射率計測 【口頭発表あり】 |
坂根 康夫 ((株)松村石油研究所) |
T7 |
光増幅器用Erドープシリケートガラスの局所構造の調査 【口頭発表あり】 |
笹井 淳 (旭硝子(株)) |
T8 |
中国および日本産の青銅鏡の蛍光分析 【口頭発表あり】 |
外山 潔 ((財)泉屋博古館) |
T9 |
半導体素子におけるナノ薄膜のX線光電子分光による評価(副題:極薄ゲート絶縁膜/シリコン界面遷移層に関する研究) |
服部 健雄 (武蔵工業大学) |
T10 |
μ-XRFおよびμ-XAFS による多結晶シリコン太陽電池中の鉄の結晶内分布および局所的結合状態の研究 |
大下 祥雄 (豊田工業大学) |
T11 |
Li電池負極材料の充放電に伴う微量析出物の同定 |
和田 仁 (福田金属工業(株)) |
T12 |
Fe-K端異常分散X線回折によるCo2Z型Baフェライトの陽イオン分布の評価 |
中川 貴 (大阪大学) |
T13 |
FED用蛍光体SrIn2O4:Prに添加した希土類元素サイトのXAFSによる検討 |
本間 徹生 (JASRI) |
T14 |
Ce賦活Gd2SiO5系シンチレータ材料における賦活剤および添加剤置換サイトの解析手法確立 |
八木 康洋 (日立化成工業(株)) |
T15 |
家電製品搭載用のPt担持系ゼオライト触媒の局所構造解析 |
松岡 雅也 (大阪府立大学) |
T16 |
微量希土類元素・遷移金属を含むGaN系高次機能調和型半導体での偏光XAFS法による局所構造 |
江村 修一 (大阪大学) |
T17 |
高活性可視光応答型光触媒能を有するTi置換型層状複水酸化物の局所構造解析 |
中平 敦 (京都工芸繊維大学) |
T18 |
高濃度塩化物中の極微量金属元素の定量 |
谷内 俊彦 ((株)YAKIN川崎) |
T19 |
微小角入射X線散乱による配向膜ポリイミド分子鎖の傾斜角に関する検討 |
横田 純一郎 (チッソ石油化学(株)) |
T20 |
Hfアルミネート薄膜の動径分布関数測定 |
廣沢 一郎 (JASRI) |
T21 |
セラミックス被膜および基板中の残留応力の深さ方向プロファイル |
土屋 新 (三菱マテリアル(株)) |
T22 |
透過X線トポグラフィーによる蛍石結晶の測定 |
向出 大平 (キヤノン(株)) |
T23 |
屈折コントラストイメージングによるヒト毛髪の非破壊内部観察 |
佐野 則道 (P&G) |
T24 |
Bi系酸化物超電導線材の内部構造観察 |
山口 浩司 (住友電気工業(株)) |
T25 |
高輝度X線イメージングを用いたカミソリ刃によるヒゲ切断現象の微視的解析 |
濱田 糾 (松下電工(株)) |