SPring-8産業利用報告会

主催：
（50音順）

(財)高輝度光科学研究センター(JASRI)

産業用専用ビームライン建設利用共同体（SUNBEAM CONSORTIUM）

(財)ひょうご科学技術協会(HSTA)

日時：

平成16年9月7日（火） 13:30 ～平成16年9月8日（水） 17:30

会場：

大型放射光施設 SPring-8　(アクセス)　　（兵庫県佐用郡三日月町光都1丁目1-1）

普及棟大講堂・中講堂及び萌光館　(キャンパスガイド)

　SPring-8は産業の振興への貢献を大切な使命と考え、産業界ユーザーに積極的な支援を行なっております。またSPring-8のいくつかのユニークな専用ビームラインでは広範な産業利用が行なわれています。そこで今回SPring-8に於ける産業利用成果を紹介し、産業界ユーザー相互、及びSPring-8スタッフとの交流を目的とする産業利用報告会を企画いたしました。
　本企画は産業用専用ビームライン建設利用共同体、兵庫県、JASRIそれぞれの発表会(報告会)をジョイントして構成したもので、口頭発表、ポスター発表および合同懇親会を行ないます。
　最近の産業利用状況・成果を知るのに絶好の機会ですので奮ってご参加ください。

開催名／日時

■ 第4回サンビーム研究発表会　＜BL16XU, BL16B2（産業界専用ビームライン）＞　（PDFファイル）
平成16年9月7日（火）13時30分～ 17時40分
産業界専用ビームラインは、企業グループ13社(神戸製鋼所、三洋電機、住友電工、ソニー、電力グループ＜関西電力、(財)電力中研＞、東芝、豊田中研、日本電気、日立、　富士通研、富士電機、松下、三菱電機)が共同体を構成して運営・利用している専用ビームラインです。エレクトロニクス，エネルギー，素材，自動車関連という広範な分野での利用研究成果を発表します。

■ 兵庫県ビームライン成果発表会　＜BL24XU＞　（PDFファイル）
平成16年9月8日（水）9時00分～ 12時00分


■ トライアルユース成果報告会　＜共用ビームライン＞
平成16年9月8日（水）13時00分～ 17時30分
鉄鋼、素材、電子機器、エネルギー、繊維、触媒等の幅広い産業分野の課題について、共用ビームラインBL19B2、BL46XU、BL01B1、BL28B2、BL37XU等において回折・散乱、XAFS、イメージング等の手法で取り組んだトライアルユース（産業界等がかかえる技術的課題解決のためにSPring-8の試験的な利用を支援する制度）の成果の一部を報告いたします。

【ポスターセッションコアタイム】
平成16年9月7日（火）16時40分～ 17時40分　平成16年9月8日（水）16時10分～ 17時30分
【合同懇親会（会費制）】
平成16年9月7日（火）18時00分～

プログラム：　９月７日（火）
会場：普及棟大講堂(オーラル), 中講堂(ポスター), 萌光館(懇親会)

13:30～17:40

■ 第4回サンビーム研究発表会　＜BL16XU, BL16B2＞

（13:30-13:35）

開会の辞

大戸時喜雄 (産業用専用BL共同体運営委員長)

（13:35-13:45）

挨　拶

吉良爽 (JASRI 理事長)

（13:45-14:05）

利用推進協議会海外視察報告

永田正之 (JASRI 常務理事)

研究発表

（14:05-14:25）

（１）

電位制御下でのX線回折、XAFSによるPt触媒表面の構造と電子状態

今井英人 (日本電気(株))

（14:25-14:45）

（２）

XAFSおよびXRDによるCeO2-ZrO2助触媒の熱劣化挙動の解析　

長井康貴 ((株)豊田中央研究所)

（14:45-15:05）

（３）

窒素添加量変化によるHf系high-k膜構造変化のXAFSによる解析

竹村モモ子 ((株)東芝)

（15:05-15:15）

休　憩

（15:15-15:35）

（４）

XAFSと第一原理計算による新規デバイス用材料評価

与名本欣樹 ((株)日立製作所)

（15:35-15:55）

（５）

Hf系高誘導体薄膜のXAFSによる局所構造解析

上原康 (三菱電機(株))

（15:55-16:15）

（６）

フレネルゾーンプレートX線像拡大法によるサブミクロン領域の半導体歪み解析

田沼良平 (富士電機アドバンストテクノロジー(株))

（16:15-16:35）

（７）

新しい微小角入射小角X線散乱技術によるNano-Clustering Silica膜の空孔構造評価

淡路直樹 ((株)富士通研究所)

（16:35-16:40）

挨　拶

石川正行 (産業用専用BL共同体副運営委員長)

ポスターセッションコアタイム

（16:40-17:40）

グリコサーマル法で合成された脱硝触媒の局所構造解析

香川公司 (関西電力(株))

X線吸収分光法による微量元素の形態分析

小林誠 ((財)電力中央研究所)

リチウムイオン二次電池オリビン正極材料のXAFS法による状態分析

工藤喜弘 (ソニーEMCS(株))

二次電池及び燃料電池材料の構造解析

三上朗 (三洋電機(株))

光ファイバ中添加元素の局所構造解析

飯原順次 (住友電気工業(株))

鋼板表面さび層を制御するためのSR利用研究

稲葉雅之 ((株)コベルコ科研)

シンクロトロンX線トポグラフィによる4H-SiCエピタキシャル膜の評価

鎌田功穂 ((財)電力中央研究所)

X線反射率測定によるゲート絶縁膜の構造解析

大森廣文 ((株)東芝)

青色蛍光体BAM中、Euの化学状態分析

尾崎伸司 ((株)松下テクノリサーチ)

S10

全電子収量法、転換電子収量法、蛍光法によるXAFS分析深さの評価

三上朗 (三洋電機(株))

S11

X線微小ビームを用いた微細Cuダマシン配線の結晶粒観察

平井康晴 ((株)日立製作所)

※

兵庫県ビームライン、トライアルユースのポスターセッションも同時開催　（ポスタータイトル）

18:00～

■ 合同懇親会　- 会費制

プログラム：　９月８日（水）
会場：普及棟大講堂(オーラル), 中講堂(ポスター)

（9:00-9:10）	研究発表
9:00～12:00	■ 兵庫県ビームライン成果発表会　＜BL24XU＞
（9:00-9:10）	挨　拶		松井純爾 (県立先端科学技術支援センター副所長)
（9:10-9:15）	実験ハッチＡ内	＜装置紹介および司会＞　土井光暢 (大阪薬科大学)
（9:15-9:30）	（１）	蛋白質立体構造からリード化合物へ	松崎尹雄 (三菱化学(株))
（9:30-9:45）	（２）	放射光を利用したアデノシンデアミナーゼ阻害剤の創出研究	木下誉富 (藤沢薬品工業(株))
（9:45-10:00）	（３）	ヘアケア製品開発におけるSPring-8の利用	佐野則道 (P&G)
（10:00-10:05）	実験ハッチＢ内	＜装置紹介および司会＞　横山和司 (HSTA)
（10:05-10:20）	（４）	放射光を用いた医薬品化合物の粉末X線回折	今吉憲幸 (大日本製薬(株))
（10:20-10:35）	（５）	医薬品関連化合物を中心とした粉末X線測定システムの構築について	岬真太郎 (塩野義製薬(株))
（10:35-10:50）	（６）	X線回折/散乱による高温ガス雰囲気中リアルタイム表面・界面観察装置の開発	尾身博雄 (NTT)
（10:50-11:05）	休　憩
（11:05-11:10）	実験ハッチＣ内	＜装置紹介および司会＞　篭島靖 (兵庫県立大学)
（11:10-11:25）	（７）	放射光蛍光X線分析による毛髪中微量元素の定量分析	安川岳志 (赤穂化成(株))
（11:25-11:40）	（８）	マイクロビームによる微小領域での高分子の結晶構造解析	本岡正則 (三井化学(株))
（11:40-11:55）	（９）	蛍石の結晶欠陥解析	向出大平 (キヤノン(株))

13:00～17:30	■ トライアルユース報告会　＜共用ビームライン＞
（13:00-13:10）	挨　拶		古宮聰 (JASRI)
（13:00-13:10）	研究発表
（13:10-13:30）	（１）	微小角入射X線散乱法による鉄不動態皮膜の構造解析	山下正人 (兵庫県立大学)
（13:30-13:50）	（２）	X線回折による溶接金属急冷凝固組織のin-situ観察技術の開発	米村光治 (住友金属工業(株))
（13:50-14:10）	（３）	レーザパルスを照射した材料の微小部残留応力分布測定	佐野雄二 ((株)東芝)
（14:10-14:30）	（４）	極小角X線散乱法による高分子繊維構造の研究	村瀬浩貴 ((株)東洋紡総合研究所)
（14:30-14:50）	（５）	放射光を用いた水和凝固型防水材における水和反応追跡および水和物結晶構造解析	宮下景子 ((株)大関化学研究所)
（14:50-15:10）	（６）	磁気ディスク用ＰＦＰＥ潤滑剤薄膜の放射光Ｘ線による反射率計測	坂根康夫 ((株)松村石油研究所)
（15:10-15:30）	休　憩
（15:30-15:50）	（７）	光増幅器用Erドープシリケートガラスの局所構造の調査	笹井淳 (旭硝子(株))
（15:50-16:10）	（８）	中国および日本産の青銅鏡の蛍光分析	外山潔 ((財)泉屋博古館)

16:10～17:30	■ ポスターセッションコアタイム

ポスターセッション：　９月７日（火）～９月８日（水）

■ サンビーム - BL16XU, BL16B2
S1	グリコサーマル法で合成された脱硝触媒の局所構造解析	香川公司 (関西電力(株))
S2	X線吸収分光法による微量元素の形態分析	小林誠 ((財)電力中央研究所)
S3	リチウムイオン二次電池オリビン正極材料のXAFS法による状態分析	工藤喜弘 (ソニーEMCS(株))
S4	二次電池及び燃料電池材料の構造解析	三上朗 (三洋電機(株))
S5	光ファイバ中添加元素の局所構造解析	飯原順次 (住友電気工業(株))
S6	鋼板表面さび層を制御するためのSR利用研究	稲葉雅之 ((株)コベルコ科研)
S7	シンクロトロンX線トポグラフィによる4H-SiCエピタキシャル膜の評価	鎌田功穂 ((財)電力中央研究所)
S8	X線反射率測定によるゲート絶縁膜の構造解析	大森廣文 ((株)東芝)
S9	青色蛍光体BAM中、Euの化学状態分析	尾崎伸司 ((株)松下テクノリサーチ)
S10	全電子収量法、転換電子収量法、蛍光法によるXAFS分析深さの評価	三上朗 (三洋電機(株))
S11	X線微小ビームを用いた微細Cuダマシン配線の結晶粒観察	平井康晴 ((株)日立製作所)
■ 兵庫県ビームライン - BL24XU
H1	硬X線顕微干渉計とゼルニケ型位相差顕微鏡による位相コントラスト像の特性比較	小山貴久 (兵庫県立大学)
H2	くさび型吸収体による走査型微分位相コントラスト硬X線顕微鏡の開発	下瀬健一 (兵庫県立大学)
H3	結像型硬Ｘ線顕微鏡を用いた顕微干渉計トモグラフィーによる断面位相計測の試み	林賢志 (兵庫県立大学)
H4	放射光マイクロビーム蛍光X線分析法による毛髪断面の多元素定量マッピング	和田いづみ (兵庫県立大学)
H5	高平行度マイクロビームによる局所領域歪み評価	冨田直弘 (兵庫県立大学)
H6	マイクロビームＸ線回折によるＩｎＧａＡｓＰ系半導体の評価	泉弘一 (日本電気(株))
H7	大型放射光（SPring-8）を利用した黒大豆の非破壊産地判別技術	永井耕介 (兵庫県立農林水産技術総合センター)
H8	析出強化合金の微小構造解析	宮下卓也 ((財)新産業創造研究機構)
H9	電子ビーム励起プラズマ法(EBEP)により形成された窒化層の残留応力	劉　莉 (兵庫県立大学)
H10	新兵庫県ビームラインBL08B2	横山和司 (HSTA)
H11	兵庫県地域結集型共同研究事業の概要	落合正晴 (HSTA)
■ トライアルユース - 共用ビームライン
T1	微小角入射X線散乱法による鉄不動態皮膜の構造解析　【口頭発表あり】	山下正人 (兵庫県立大学)
T2	X線回折による溶接金属急冷凝固組織のin-situ観察技術の開発　【口頭発表あり】	米村光治 (住友金属工業(株))
T3	レーザパルスを照射した材料の微小部残留応力分布測定　【口頭発表あり】	佐野雄二 ((株)東芝)
T4	極小角X線散乱法による高分子繊維構造の研究　【口頭発表あり】	村瀬浩貴 ((株)東洋紡総合研究所)
T5	放射光を用いた水和凝固型防水材における水和反応追跡および水和物結晶構造解析　【口頭発表あり】	宮下景子 ((株)大関化学研究所)
T6	磁気ディスク用ＰＦＰＥ潤滑剤薄膜の放射光Ｘ線による反射率計測　【口頭発表あり】	坂根康夫 ((株)松村石油研究所)
T7	光増幅器用Erドープシリケートガラスの局所構造の調査　【口頭発表あり】	笹井淳 (旭硝子(株))
T8	中国および日本産の青銅鏡の蛍光分析　【口頭発表あり】	外山潔 ((財)泉屋博古館)
T9	半導体素子におけるナノ薄膜のX線光電子分光による評価（副題：極薄ゲート絶縁膜/シリコン界面遷移層に関する研究）	服部健雄 (武蔵工業大学)
T10	μ-XRFおよびμ-XAFS による多結晶シリコン太陽電池中の鉄の結晶内分布および局所的結合状態の研究	大下祥雄 (豊田工業大学)
T11	Li電池負極材料の充放電に伴う微量析出物の同定	和田仁 (福田金属工業(株))
T12	Fe-K端異常分散X線回折によるCo2Z型Baフェライトの陽イオン分布の評価	中川貴 (大阪大学)
T13	FED用蛍光体SrIn2O4:Prに添加した希土類元素サイトのXAFSによる検討	本間徹生 (JASRI)
T14	Ce賦活Gd2SiO5系シンチレータ材料における賦活剤および添加剤置換サイトの解析手法確立	八木康洋 (日立化成工業(株))
T15	家電製品搭載用のＰｔ担持系ゼオライト触媒の局所構造解析	松岡雅也 (大阪府立大学)
T16	微量希土類元素・遷移金属を含むGaN系高次機能調和型半導体での偏光XAFS法による局所構造	江村修一 (大阪大学)
T17	高活性可視光応答型光触媒能を有するTi置換型層状複水酸化物の局所構造解析	中平敦 (京都工芸繊維大学)
T18	高濃度塩化物中の極微量金属元素の定量	谷内俊彦 ((株)YAKIN川崎)
T19	微小角入射X線散乱による配向膜ポリイミド分子鎖の傾斜角に関する検討	横田純一郎 (チッソ石油化学(株))
T20	Hfアルミネート薄膜の動径分布関数測定	廣沢一郎 (JASRI)
T21	セラミックス被膜および基板中の残留応力の深さ方向プロファイル	土屋新 (三菱マテリアル(株))
T22	透過X線トポグラフィーによる蛍石結晶の測定	向出大平 (キヤノン(株))
T23	屈折コントラストイメージングによるヒト毛髪の非破壊内部観察	佐野則道 (P&G)
T24	Bi系酸化物超電導線材の内部構造観察	山口浩司 (住友電気工業(株))
T25	高輝度X線イメージングを用いたカミソリ刃によるヒゲ切断現象の微視的解析	濱田糾 (松下電工(株))

参加要項

参加費

無料

定員

150名程度（定員になり次第締め切ります）

申込方法

申込ページ（https://support.spring8.or.jp/group/trialuse/sun_040907_form.html) からオンラインでお申込みください。宿泊（研究交流施設利用 2000円/泊）は、このページから申込みできます。

この申込みページはWebブラウザとWebサーバ間の経路における通信内容の漏洩・改ざんの危険性を回避する目的でSSL（Secure Sockets Layer）の暗号化通信をHTTPに実装したものを使用しています。そのためブラウザによってはアクセスする度に警告がでますが間違いなく暗号化によって保護されておりますので、そのまま続行して押して下さい。（検索：SSL警告 http://search.yahoo.co.jp/bin/query?p=SSL%b7%d9%b9%f0&hc=0&hs=0）

申込ページにアクセスできない場合は、こちらの内容を記入し、FAXかe-mailで事務局宛にお送りください。

申込締切

平成16年8月31日(火) 参加申込みを締め切りました。多数のお申込みありがとうございました。
(締め切り後の申込みは下記にご連絡下さい)

お問合せ先

事務局

(財)高輝度光科学研究センター(JASRI)
利用支援室　辻、竹内
TEL:0791-58-0924, FAX:0791-58-0988
e-mail : support@spring8.or.jp