第2回SPring-8産業利用報告会 タイトル
  
主 催:
(50音順)
(財)高輝度光科学研究センター(JASRI)
産業用専用ビームライン建設利用共同体(SUNBEAM CONSORTIUM)
(財)ひょうご科学技術協会(HSTA)
共 催: SPring-8利用推進協議会
日 時: 平成17年9月5日(月)  12:30〜19:00  / (懇親会 19:00〜21:00)
平成17年9月6日(火) 10:00〜17:30
会 場: 大型放射光施設 SPring-8 (アクセス)(兵庫県佐用郡三日月町光都1丁目1-1)
放射光普及棟 大講堂・中講堂 及び 萌光館 (キャンパスガイド)

(財)高輝度光科学研究センター(JASRI)は産業の振興への貢献を大切な使命と考え、 共用ビームラインを用いて産業界ユーザーに積極的な支援を行なっております。 また、いくつかの専用ビームラインでも広範な産業利用が行なわれています。
そこで、昨年度に引き続きSPring-8に於ける産業利用成果を紹介し、 産業界ユーザー相互およびSPring-8スタッフとの交流を目的とする産業利用報告会を行います。 本報告会は産業用専用ビームライン建設利用共同体、兵庫県、JASRIそれぞれの発表会(報告会)をジョイントして構成したもので、 口頭発表・ポスター発表および合同懇親会を行ないます。
最近の産業利用状況・成果を知るのに絶好の機会ですので奮ってご参加ください。

プログラム
         
9月5日(月)  SPring-8普及棟大講堂 12:30-17:30
1.挨拶  
 12:30-13:00 吉良 爽  ((財)高輝度光科学研究センター 理事長)
石川 正行 (産業用専用ビームライン建設利用共同体 運営委員長)
千川 純一 (兵庫県立先端科学技術支援センター 所長)
2.利用成果等報告 
 13:00-15:00 ○産業用専用ビームライン
  タイトル 発表者
13:00-13:20 電子部品グリーン調達用クロメート膜中6価クロムのXANES分析 野村 健二(富士通研究所)
13:20-13:40 超高品質SiC単結晶のトポグラフを用いた欠陥評価 山口 聡(豊田中央研究所)
13:40-14:00 Bi系超電導線材の焼結過程のin-situ評価 飯原 順次(住友電気工業)
14:00-14:20 CoPtCr-SiO2垂直磁気記録媒体高密度化のための放射光X線およびTEMによるナノ構造解析 久保木 孔之(富士電機アドバンストテクノロジー)
14:20-14:40 X線マイクロビームを用いた電線絶縁材料の微小部分析とイメージング 山崎 孝則(日立製作所)
14:40-15:00 電気化学キャパシタ電極材料のin-situXAFS解析 田中 篤嗣(関西電力)
   
15:00-15:15 【コーヒーブレイク】
   
15:15-17:15 ○SPring-8共用ビームライン
(15:15-17:00) a) 2004年度に実施したT.U.課題を中心とした報告(各15分)
   
  タイトル 発表者
15:15-15:30 XAFSによるPET用シンチレータ材料の局所構造評価 八木 康洋(日立化成工業(株))
15:30-15:45 XAFSによる新規PDP用青色蛍光体CaMgSi2O6:Euの発光中心の解析 國本 崇(徳島文理大学)
15:45-16:00 白色LED用緑色蛍光体Ca3Sc2Si3O12:Ceの発光特性と局所構造 下村 康夫((株)三菱化学科学技術研究センター)
16:00-16:15 XAFS法による水素貯蔵材料に添加した触媒の化学状態分析 市川 貴之(広島大学)
16:15-16:30 放射光を利用した太陽電池用多結晶シリコンの評価 大下 祥雄(豊田工業大学)
16:30-16:45 微小角入射X線回折による液晶配向膜表面構造の解析 平野 幸夫(チッソ石油化学(株))
16:45-17:00 微小角入射X線散乱による鉄不働態皮膜の原子動径分布解析 山下 正人(兵庫県立大学)

(17:00-17:15)

b) 共用ビームラインにおける産業利用の現状(仮題)(15分)

古宮 聰 ((財)高輝度光科学研究センター)

3.ビームライン見学 SPring-8蓄積リング棟 17:30-19:00 (希望者のみ)
17:30-19:00
BL16XUBL16B2BL19B2BL24XU  (人数等により変更する場合があります)  
 
※新兵庫県ビームライン(BL08B2)については9月6日16:45より見学会を行います
 

4.懇親会 SPring-8萌光館 19:00-21:00 (希望者のみ)
 19:00-21:00


9月6日(火)
1.ポスター発表  SPring-8普及棟中講堂 10:00-12:30
10:00-12:30  共用BL、サンビーム、兵庫県BL コアタイム
(ポスターは9/5 12:30 から 9/6 15:10まで掲示)

2.利用成果等報告 SPring-8普及棟大講堂 13:00-16:30
13:00-16:30 ○兵庫県ビームライン
兵庫県ビームラインは、SPring-8内に設置された専用ビームラインですが、 一般ユーザーにも開放された産業利用を重点とした特徴あるビームラインです。 既存ビームライン(BL24XU)利用の成果事例報告とともに、 産業界のニーズに対応した利用を一層支援するために、立ち上げ調整中の新ビームライン(BL08B2)の紹介と見学会を行います。
(13:00-13:10) 挨 拶 松井 純爾 (県立先端科学技術支援センター 副所長)
【第1部】 BL24XUの成果事例報告
                       
  タイトル 発表者
実験ハッチA
13:10〜   装置説明及び司会 山本 雅貴(理化学研究所)
13:15〜13:30 1. 微小結晶からの構造解析 柳 和則(住友化学)
13:30〜13:45 2. エラスターゼと阻害剤の複合体の結晶構造解析(仮) 火山 陽一(大日本製薬)
13:45〜14:00 3. 医薬品化合物の微小結晶の結晶構造解析 小田垣 良彦(小野薬品工業)
実験ハッチB
14:00〜 装置説明及び司会 前原 一宣(ニッテクリサーチ)
14:05〜14:20 4. 自己組織化膜の表面回折 谷 克彦(リコー)
14:20〜14:35 5. X線回折法によるNi基超合金の劣化診断法(仮) 宮下 卓也(新産業創造研究機構)
14:35〜14:50 6. 放射光を用いた医薬品化合物の粉末X線回折 今吉 憲幸(大日本製薬)

(14:50〜15:10)

コーヒーブレイク

実験ハッチC
15:10〜   装置説明及び司会 篭島 靖(兵庫県立大学)
15:15〜15:30 7. マイクロビームX線回折によるInGaAsP系半導体の評価 泉 弘一(日本電気)
15:30〜15:45 8. X線マイクロビームによるシリコン系半導体の結晶性評価 田沼 良平(富士電機アドバンストテクノロジー)
15:45〜16:00 9. マイクロビームによる高分子微細構造解析 大石 久美子(クラレ)
【第2部】 BL08B2の紹介
司会 松井 純爾(ひょうご科学技術協会)
(16:00-16:30) 新兵庫県ビームライン(BL08B2)の概要 桑本 滋生(ひょうご科学技術協会)
(16:45-17:30) BL08B2見学会 SPring-8蓄積リング棟 16:45-17:30 (希望者のみ)




ポスター発表(配置図
掲示期間: 9月5日(月)12:30 〜 9月6日(火)15:10
コアタイム: 9月6日(火)10:00 〜 12:00
コアタイムは、ポスター番号の奇数・偶数で時間帯を分けて行います。【奇数:10:00-11:00】【偶数:11:00-12:00】
     
No タイトル 発表者
T1 マイクロビームX線を用いたヒト毛髪キューティクルの構造解析 井上 敬文((株)カネボウ化粧品)
T2 皮膚角層中の細胞間脂質の基本構造とそれに基づくバリアー機能の解明への展開 八田 一郎(福井工業大学)
T3 透過法XRD測定による混合アルカリ塩化物融体の構造解析 梶並 昭彦(神戸大学)
T4 ポリ乳酸の結晶化と融解 河井 貴彦(京都大学)
T5 水素貯蔵材料の結晶構造解析 則竹 達夫((株)豊田中央研究所)
T6 XAFS法による水素貯蔵材料に添加した触媒の化学状態分析【口頭発表あり】 市川 貴之(広島大学)
T7 放射光を利用した燃料電池触媒電極の構造評価 今井 英人(日本電気(株))
T8 XAFS測定による酸化チタン担持金触媒の化学構造解析 川端 竜也((株)日本触媒)
T9 XAFSによる新規PDP用青色蛍光体CaMgSi2O6:Euの発光中心の解析【口頭発表あり】 國本 崇(徳島文理大学)
T10 白色LED用緑色蛍光体Ca3Sc2Si3O12:Ceの発光特性と局所構造【口頭発表あり】 下村 康夫((株)三菱化学科学技術研究センター)
T11 XAFSによる青色蛍光体BAMの輝度劣化に関する検討 広沢 一郎(JASRI)
T12 XAFSによるPET用シンチレータ材料の局所構造評価 【口頭発表あり】 八木 康洋(日立化成工業(株))
T13 放射光を利用した太陽電池用多結晶シリコンの評価【口頭発表あり】 大下 祥雄(豊田工業大学)
T14 微小角入射X線散乱法によるhigh-k膜の構造評価 竹村 モモ子((株)東芝)
T15 微小角入射X線小角散乱法によるCu配線用Low−k層間絶縁膜の空孔分布評価 淡路 直樹((株)富士通研究所)
T16 磁気ディスク表面のナノ有機薄膜としての潤滑剤の研究:放射光X線による膜厚と吸着状態の解析 若林 明伸((株)松村石油研究所)
T17 微小角入射X線回折による液晶配向膜表面構造の解析【口頭発表あり】 平野 幸夫(チッソ石油化学(株))
T18 薄膜構造評価用X線回折装置ATX-GSORの利用事例 北野 彰子(JASRI)
T19 視斜角入射X線回折法による高分子相界面の構造評価 中原 重樹((株)三井化学分析センター)
T20 極小角X線散乱法による高分子繊維の構造に関する研究 村瀬 浩貴((株)東洋紡総合研究所)
T21 X線CTによるコンクリート微細空隙の観察 人見 尚((株)大林組)
T22 放射光による高品位蛍石の評価 野間 敬(キヤノン(株))
T23 屈折コントラスト法による電池部材の観察 中村 元宣(住友電気工業(株))
T24 放射光による金属材料のイメージング観察 中井 善一(神戸大学)
T25 レーザパルスを照射した材料の非破壊残留応力分布測定 内藤 英樹((株)東芝)
T26 時間分解X線回折による溶接金属急冷凝固組織のin-situ観察 米村 光治(住友金属工業(株))
T27 微小角入射X線散乱による鉄不働態皮膜の原子動径分布解析【口頭発表あり】 山下 正人(兵庫県立大学)
S1 円偏光X線生成とXMCD測定法立上げ 平井 康晴(日立製作所)
S2 その場計測ガス供給排気設備の立ち上げ 広瀬 美治(豊田中央研究所)
S3 微小角入射X線散乱技術立上げと応用(4社共同実験) 竹村 モモ子(東芝)
S4 二次元XAFSによる価数分布評価(5社共同実験)  山口 聡(豊田中央研究所)
S5 SDDによるβ-FeOOHさび中極微量TiのXAFS測定・評価 世木 隆(神戸製鋼所)
S6 in situ XRDによるSi添加鋼の2次スケール生成挙動の解析 稲葉 雅之(神戸製鋼所)
S7 CoOx膜のXAFSにおける分析深さの推定 高川 悌二(三洋電機)
S8 SiGe薄膜の結晶構造解析 後藤 隆(三洋電機)
S9 X線散乱法およびXAFS法による非晶質材料の構造解析 斎藤 吉広(住友電気工業)
S10 リチウムイオン二次電池オリビン系正極材料LixMnyFe1-yPO4のXAFS解析 工藤 喜弘(ソニー)
S11 電気化学キャパシタ電極材料のin-situXAFS解析  田中 篤嗣(関西電力)
S12 トポグラフィによる4H−SiCエピタキシャル膜中の結晶欠陥評価 鎌田 功穂(電力中央研究所)
S13 XAFSによる希薄な溶液中セレンの酸化挙動の直接解析 秋保 広幸(電力中央研究所)
S14 X線反射率法によるHfSiON膜の構造解析 山崎 英之(東芝)
S15 ゴムメタルの引張負荷下偏光XAFS解析 野中 敬正(豊田中央研究所)
S16 エアロゾルデポジション法による強誘電体膜の構造 中田 正文(日本電気)
S17 X線マイクロビームを用いた電線絶縁材料の微小部分析とイメージング 山崎 孝則(日立製作所)
S18 電子部品グリーン調達用クロメート膜中6価クロムのXANES分析 野村 健二(富士通研究所)
S19 CoPtCr-SiO2垂直磁気記録媒体高密度化のための放射光X線およびTEMによるナノ構造解析 久保木 孔之(富士電機アドバンストテクノロジー)
S20 7素子SDDのXAFSへの応用 −検出器間の比較− 尾崎 伸司(松下電器産業)
S21 X線反射率によるCVDシリコン酸化膜の改質状態解析 河瀬 和雅(三菱電機)
S22 吸収端近傍励起XRFによるHfSiOx超薄膜の評価 上原 康(三菱電機)
H1 硬X線顕微干渉計による高空間分解能位相計測と位相CT 小山 貴久 (兵庫県立大学)
H2 半導体デバイス等の微小部X線回折測定 - 蛍光X線検出による精密位置決め 中川 愛湖 (兵庫県立大学)
H3 全反射ダブルスリット干渉計を用いた硬X線の空間コヒーレンス測定 辻 卓也 (兵庫県立大学)
H4 高平行度マイクロビームによる次世代ウエーハの局所領域歪み評価 林 和樹 (兵庫県立大学)
H5 新兵庫県ビームライン(BL08B2)の概要 桑本 滋生 (ひょうご科学技術協会)
H6 兵庫県地域結集型共同研究事業の概要 落合 正晴 (ひょうご科学技術協会)

参加要項
参加費 無料
定 員 100名程度 (定員になり次第締め切ります)
申込方法

申込ページ(https://support.spring8.or.jp/group/trialuse/sun_050905_form.html) からオンラインでお申込みください。 宿泊(研究交流施設利用 2000円/泊)は、このページから申込みできます。
参加申込みを締め切りました。

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申込ページにアクセスできない場合は、こちらの内容を記入し、 FAXかe-mailで事務局宛にお送りください。
申込締切 平成17年8月29日(月)
(締め切り後の申込みは下記にご連絡下さい)

お問合せ先
報告会事務局 (財)高輝度光科学研究センター(JASRI)
研究調整部 研究業務課 辻、竹内
TEL:0791-58-0924, FAX:0791-58-0988
e-mail : support@spring8.or.jp

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