平成16年度 SPring-8トライアルユース成果報告会

 大型放射光施設SPring-8は、平成15年度より、産業利用促進及び産学官連携利用推進の一環として、産業界等が抱える研究開発分野のうち、 SPring-8の高輝度放射光を利用することにより技術的なブレイクスルーが期待されるものを対象に、 一般課題とは別に重点研究課題としてトライアルユース(TU)を実施しています。
 つきましては、平成16年度トライアルユースの重点分野として実施した電子デバイス用薄膜、 微量元素局所構造解析の課題を中心に成果報告会を開催する運びとなりましたのでご案内します。


主 催 (財)高輝度光科学研究センター(JASRI)
日 時 平成17年3月10日(木) 10:00〜15:00
会 場 丸ビルコンファレンス スクエア 8階 Room 4 (地図)
〒100-6307 東京都千代田区丸の内2-4-1丸ビル Tel:03-3217-7111

プログラム
10:00〜10:20 トライアルユースの概要と結果 古宮 聰(JASRI)
10:20〜14:20 成果報告(講演:各20分)
(10:20-10:40) 1. 微小角入射X線散乱を用いたLow-k層間膜材料の構造解析 鈴木 貴志 ((株)富士通研究所)
(10:40-11:00) 2. (1)XAFS による高誘電体ゲート絶縁膜材料の構造解析、 (2)Hfシリケート薄膜の動径分布測定 竹村 モモ子 ((株)東芝)
(11:00-11:20) 3. 放射光を利用した透明導電膜IZOの非晶構造解析 島根 幸朗 (出光興産(株))
(11:20-11:40) 4. 液晶配向膜表面の結晶性と液晶の配向性との相関 酒井 隆宏 (日産化学工業(株))
(11:40-12:00) 5. 偏光フィルム中のヨウ素のXAFSによる構造解析 島津 彰 (日東電工(株))
( 休 憩 )
(13:00-13:20) 6. Zn添加Y2O3:Eu蛍光体におけるZnの局所構造解析 小南 裕子 (静岡大学)
(13:20-13:40) 7. 光増幅器用Erドープシリケートガラスの局所構造の調査 笹井 淳 (旭硝子(株))
(13:40-14:00) 8. 微小角入射X線散乱法による鉄不動態皮膜の構造解析 山下 正人 (兵庫県立大学)
(14:00-14:20) 9. X線回折による溶接金属凝固組織のin-situ観察技術の開発 米村 光治 (住友金属工業(株))
(14:20-14:40) 10. 不溶化処理した鉛汚染土壌中の鉛のXAFSおよび粉末X線回折による形態分析 口舩 愛 ((株)アステック)
14:40〜15:00 講 評 池田 重良 (立命館大学・TU評価委員長)

参加要項
参加費 無料(事前に事務局宛て参加申込み)
定 員 100名 (定員になり次第締め切り)
申込方法

こちらのページ( https://support.spring8.or.jp/group/trialuse/try_050310_form.html)からお申し込みください。
締め切りました

申込ページにアクセスできない場合は、氏名、ふりがな、所属、連絡先、e-mail をご記入の上、e-mailまたはFAXで事務局宛にお申し込みください。

申込締切 平成17年3月3日(木)
(締め切り後の申込みは下記にご連絡下さい)

お問合せ先
事務局 (財)高輝度光科学研究センター(JASRI)
利用支援室 辻、竹内
〒679-5198 兵庫県佐用郡三日月町光都1-1-1
TEL:0791-58-0924, FAX:0791-58-0988
e-mail:support@spring8.or.jp

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