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| 日時 | 日時： 2002年 02 月 14日 （木） 13:30 〜 17:30 | ||||||
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| 会場 |
大型放射光実験施設 SPring-8 |
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| 内容 |
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| 対象者 |
・XAFS利用研究を計画している初心者の人 ＊2/15に行われる「初心者を対象としたXAFS測定研修会」と同時受講可能です。同時受講を希望される方で、「初心者を対象としたXAFS測定研修会」に試料を持ち込まれる方は、この「透過法XAFS測定のための試料調製実習」研修会に試料を持込んで、試料調製を行うことが可能です。 |
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| 募集定員 |
約１０名 |
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| 申込方法 | 応募者多数のため締め切りました | ||||||
| その他・注意事項 |
・研修会参加者は下記の文献を参照してきてください XAFS測定: 宇田川康夫編、『X線吸収微細構造 XAFSの測定と解析』学会出版センター BL19B2 光学系: 岡島 敏浩他、『産業利用ビームラインBL19B2の現状』 SPring8利用者情報 Vol.6、No.5 (2001) 360−363. ・持込試料の制限は次の通りです。詳細はお問い合わせください。 透過法で測定できること 安全、法規上問題のないもの 汚染、破損、紛失しても構わないもの ・本研修会の参加にはSPring8 User登録、放射線従事者登録などの諸手続きが完了されていることが必要です。 また、持ち込み希望サンプルについては、安全管理室審査の手続きが必要となります。 参加受付後これらの手続きに関するご案内をいたします。 ・研修会への参加は無料です。 ・研修会参加者への旅費支給等はありません。 ・申込者多数の場合は、当方での調整に一任願います。 ・前日および当日に宿泊が必要な方は、SPring-8交流施設をご利用いただけます(2000円/泊)。 |
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ご質問、ご要望はメールにてお願いします。
(財)高輝度光科学研究センター |
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