| SPring-8研修会 ＜透過法XAFS測定のための試料調製実習＞ |
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| 概要 | ||||||||||
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| 日時 | 2003年2月26日(水) | |||||||||
| 会場 |
大型放射光実験施設 SPring-8 リング棟 B共09（BL19B2 側室） |
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| 内容 |
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| 対象者 |
・XAFS利用研究を計画している初心者の人 ＊2/27に行われる「初心者を対象としたXAFS測定研修会」と同時受講可能です。 同時受講を希望される方で、「初心者を対象としたXAFS測定研修会」に試料を持ち込まれる方は、 この「透過法XAFS測定のための試料調製実習」研修会に試料を持込んで、試料調製を行うことが可能です。 |
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| 定員 | 10名 | |||||||||
| 申込方法 | 応募者多数のため締め切りました。ありがとうございました。 | |||||||||
| 申込締切 | 2003年2月5日(水) | |||||||||
| その他 注意事項 |
・研修会参加者は下記の文献を参照してきてください - XAFS測定: 宇田川康夫編、『X線吸収微細構造 XAFSの測定と解析』学会出版センター - BL19B2 光学系: 岡島 敏浩他、『産業利用ビームラインBL19B2の現状』 SPring8利用者情報 Vol.6、No.5 (2001) 360−363. ・持込試料の制限は次の通りです。試料持込を希望される方は申込み前に本間honma@spring8.or.jpまでe-mailでお問い合わせください。 - 透過法で測定できること - 安全、法規上問題のないもの - 汚染、破損、紛失しても構わないもの ・本研修会の参加にはSPring8 User登録、放射線従事者登録などの諸手続きが完了されていることが必要です。 また、持ち込み希望サンプルについては、安全管理室審査の手続きが必要となります。 参加受付後これらの手続きに関するご案内をいたします。 ・学生の方は「学生保険」等に加入していることが必要です。 ・参加者への連絡などは全てe-mailで行います。 参加の手続にはオンライン登録や書類のダウンロードが必要です。 インターネットに接続できる環境をご用意ください。 ・研修会への参加は無料です。 ・研修会参加者への旅費支給等はありません。 ・申込者多数の場合は、当方での調整に一任願います。 ・前日および当日に宿泊が必要な方は、SPring-8交流施設 をご利用いただけます(2000円/泊)。 |
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| 問合せ先 |
ご質問、ご要望はメールにてお願いします。
実習担当： （内容等について）
事務担当： （手続き等について） |
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SPring-8 財団法人 高輝度光科学研究センター 産業応用・利用支援グループ
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