産業応用・利用支援グループ タイトル
SPring-8研修会
<初心者を対象とした蛍光XAFS測定>

概要

SPring-8共用ビームラインを使った初心者を対象とした蛍光XAFS測定研修会を行います。 測定には19素子ゲルマニウム半導体検出器の使用を予定しています。 微量元素または薄膜のXAFSによる局所構造解析を計画している初心者ユーザーが、 産業利用や初心者ユーザーの放射光利用促進を目的とした共用ビームラインであるBL19B2での講義と実習を通して光学系・実験装置の特徴を理解してもらい、 適切な実験計画に基づいて有効な実験成果を出してもらうことを目的とします。
実習では、酸化物などの蛍光XAFS測定と、得られたデータの簡単な解析のデモンストレーションを行い、また、参加者の持参された試料の測定を行います。

日時 2005年11月22日(火)10:30 〜 23日(水)10:00 (測定終了次第終了)
会場 大型放射光施設 SPring-8
講義 :蓄積リング棟 B共09(BL19B2側室)
研修 :蓄積リング棟 実験ホール内 BL19B2
内容
11月22日(火)
-10:30までに 各自ユーザー手続き
(人によって所要時間が違います。特に初めて来所の人は早めに(9時迄に)来て頂く必要があります。)
10:30-11:30
講義
B共09(BL19B2側室)
BL19B2の光学系とXAFS測定 本間徹生(JASRI)
13:30-
実習
BL19B2
装置説明・デモデータ測定とその解析のデモンストレーション
- 参加持ち込み試料の測定 - (測定終了次第終了)
対象者
  • 蛍光XAFS測定の未経験者でSPring-8での実験を計画したい方
  • 蛍光XAFS測定の課題申請をしたが実験装置の使用経験が少なく、習得したい方
定員 5グループ(ただし1グループ3名まで)
申込方法 申込者多数の為、締め切りました。
申込締切 2005年11月7日(月) 正午 ※ただし定員になり次第締め切ります
その他
注意事項
  • 持込試料の制限は次の通り。

    ・持ち込み試料は1グループ1サンプル
    ・安全、法規上問題のないもの
    ・汚染、破損、紛失しても構わないもの

    ※持ち込み試料について、申込書に正確にご記載下さい。実験可否の判断基準にします。
    ※データ持ち帰り用に、フロッピーディスクまたはUSBメモリーを持参して下さい。


  • 研修会参加者は下記の文献を参照してきてください。

    XAFS測定:
    宇田川康夫編、『X線吸収微細構造 XAFSの測定と解析』学会出版センター
    大田俊明編、『X線吸収分光法−XAFSとその応用−』アイピーシー

    BL19B2 光学系:
    岡島 敏浩他、『産業利用ビームラインBL19B2の現状
    SPring-8利用者情報 Vol.6、No.5 (2001) 360−363.

  • 本研修会の参加にはSPring8 User登録、放射線従事者登録などの諸手続きが完了されていることが必要です。また、持ち込み希望サンプルについては、安全管理室審査の手続きが必要となります。 (必要な書類:利用申込書(様式10), 放射線業務従事者登録申請書兼放射線作業従事承諾書(様式5-1), 試料および薬品等持込申請書(様式9) ※ 参加受付後これらの手続きに関する案内をします。

  • 学生の方は「学生保険」等に加入していることが必要です。

  • 参加者への連絡などは全てe-mailで行います。参加の手続にはオンライン登録や書類のダウンロードが必要です。インターネットに接続できる環境をご用意ください。

  • 研修会への参加は無料です。

  • 研修会参加者への旅費支給等はありません。

  • 申込者多数の場合は、当方での調整に一任願います。

  • 前日および当日に宿泊が必要な方は、SPring-8交流施設をご利用いただけます(2000円/泊)。

問合せ先

ご質問、ご要望はメールにてお願いします。

実習担当: (内容等について)
  (財)高輝度光科学研究センター
  産業利用推進室 本間 徹生
  e-mail : honma@spring8.or.jp

事務担当: (手続き等について)
 (財)高輝度光科学研究センター
 研究調整部 研究業務課 産業利用推進室担当事務
 担当:辻 雅樹、竹内 やよい
 Tel:0791-58-0924 Fax:0791-58-0988
 e-mail : support@spring8.or.jp


SPring-8 財団法人 高輝度光科学研究センター 産業応用・利用支援グループ

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