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締め切りました。
産業利用に役立つXAFSによる先端材料の局所状態解析2008
主催

(財)高輝度光科学研究センター(JASRI)

共催

SPring-8利用推進協議会「産業利用研究会」

後援

日本XAFS研究会
SPring-8利用者懇談会「X線スペクトロスコピー研究会」

日時

2008年01月17日(木)09:50-17:00(技術交流会:17:30-19:00)

2008年01月18日(金)09:30-15:00

会場

 京都リサーチパーク 西地区4号館(JR嵯峨野線丹波口駅徒歩5分)
アクセス :http://www.krp.co.jp/access/index.html
  技術交流会 (参加費:2000円)

概要

フリーの解析ソフト(Athena,Artemis)を利用したXAFS(X線吸収微細構造)スペクトル解析法および FEFFを用いたシミュレーションの実習を行います。また、XANESを利用した解析例を中心に最新のXAFS分析についてご紹介します。

プログラム

<1月17日(木)−1日目>

                                                        
時間 講義/実習   内容講師
09:50-10:00SPring-8講習会<産業利用に役立つXAFSによる先端材料の局所状態解析2008>開催にあたって
10:00-11:30 講義 3d遷移金属のX線吸収スペクトルのプレエッジピークについて 山本 孝先生 (京大)
11:30-13:00 【昼食】
13:00-14:00 実習 フリーウェアAthenaとArtemisによるXAFSデータ解析の概要説明                                     ※Cu箔の解析                                                                         ※解析ソフト(AthenaとArtemis)がインストール済みのノートパソコンをご用意下さい。 Paul Fons先生                         (産総研)
14:00-15:00 講義 燃料電池用電極触媒のXAFSによる局所状態解析 今井 英人先生(NEC)
15:00-15:30 【休憩】(30分)
15:30-17:00 実習 FEFF(Ver.6)を利用したカーブフィッティングについて                           
          ※ZnO(結晶)の解析 ※解析ソフト(AthenaとArtemis)がインストール済みのノートパソコンをご用意下さい。
Paul Fons先生                         (産総研)
技術交流会(17:30-19:00)(希望者のみ)

<1月18日(金)>

  
時間 講義/実習   内容講師
09:30-10:30 講義 ゼオライト・メソ多孔質シリカに組み込んだシングルサイト光触媒の局所構造と光触媒特性 山下 弘巳先生 (大阪大)
10:30-11:30 講義 X線吸収スペクトルの第一原理計算:その基礎と遷移金属化合物触媒への応用 小口 多美夫先生 (広島大)
11:30-13:00 【昼食】
13:00-15:00 実習 多元素化合物における複数吸収端同時解析方法について                                    
※GeTe(結晶)の解析                                                                         ※解析ソフト(AthenaとArtemis)がインストール済みのノートパソコンをご用意下さい。
Paul Fons先生                         (産総研)


対象者

XAFS測定・解析の経験があり、スペクトル解析方法について詳しく知りたい方

定員

40名程度  定員になり次第締め切ります。
聴講のみ(PC持参なし)の参加も可
申込者多数の場合は、当方での調整に一任願います。調整後、申込者に参加の可否についてご連絡致します。 同じ所属の方が参加を希望される場合、原則最大2名とし先着とさせて頂きます。

参加費

 講習会への参加は無料です。  技術交流会参加費 : 2000円

申込方法
     申込ページ
こちらからお申込み下さい


申込開始

 2007年11月26日(月)12:00

申込締切

 2008年1月7日(月)12:00

その他

・注意事項 講習会参加者は下記の文献(特にEXAFSスペクトル解析方法)を参照してきて下さい。
※初級・中級レベルを想定しているためEXAFSスペクトルの基本的な解析方法についての講義はございません。
                             
宇田川康夫編、『X線吸収微細構造 XAFSの測定と解析』、学会出版センター
太田俊明編、『X線吸収分光法 −XAFSとその応用−』、アイピーシー

問合せ先:
内容についてのご質問:
(財)高輝度光科学研究センター(JASRI)
産業利用推進室  本間
TEL: 0791-58-0828 ex.3508
e-mail : honma@spring8.or.jp


利用研究促進部門 宇留賀
TEL: 0791-58-0802 ex.3836
e-mail : urugat@spring8.or.jp


利用研究促進部門 谷田
TEL: 0791-58-0802 ex.3880
e-mail : tanida@spring8.or.jp



参加登録に関する問合せ等:

(財)高輝度光科学研究センター
研究調整部 研究業務課 産業利用推進室担当事務 垣口、濱中
Tel:0791-58-0839 Fax:0791-58-0988
e-mail : workshops@spring8.or.jp