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初心者を対象としたXAFS測定研修会
締め切りました
概要

SPring-8の産業利用UビームラインBL14B2において主として初心者を対象としたXAFS測定研修会を行います。
測定は透過法、蛍光法(ライトル検出器、19素子ゲルマニウム半導体検出器の使用を予定)を実施します。
初心者ユーザーの産業利用促進を目的とした共用ビームラインBL14B2における実習を通して光学系・実験装置の特徴について学び
適切な実験計画に基づいて測定する技術の習得を目的とします。
実習では、ご計画中のXAFS分析のテスト測定として参加者の持参された試料の測定を行います。

日時

2008年 2月 8日(金)10:00〜 2月 9日(土)10:00(測定終了次第終了)

会場

大型放射光施設(SPring-8) 所在地  :兵庫県佐用郡佐用町光都1-1-1
講義場所 :中央管理棟1F講堂
実習(測定):蓄積リング棟 BL14B2)
アクセス : http://www.spring8.or.jp/ja/about_us/access/guide
キャンパスマップ : http://www.spring8.or.jp/ja/about_us/campus/publicfolder_view

内容

- 10:20 各自ユーザー手続き
 (人によって所要時間が違います。特に初めて来所の人は早めに(9時迄に)来て頂く必要があります。)
 10:30-11:30 講義
 中央管理棟1階講堂:BL14B2の光学系とXAFS測定(本間徹生)
 13:30- 実習
 BL14B2:装置説明:デモ測定
- 参加者持ち込み試料の測定(測定終了次第終了)

対象者

・ 主に産業利用をご計画中のXAFS測定の初心者
・ XAFS測定の課題申請をしたが実験装置の使用経験が少なく、習得したい方

定員

約5グループ(1グループ3名までとします)

申込方法

受付終了致しました。

申込締切

定員に達しましたので締切ました!

研修会参加者は下記の文献を参照してきてください

−XAFS測定:宇田川康夫編、『X線吸収微細構造 XAFSの測定と解析』学会出版センター
      太田 俊明編、『X線吸収分光法−XAFSとその応用−』アイピーシー
−BL14B2光学系:本間徹生、『産業利用UビームラインBL14B2(XAFS)の紹介』SPring8利用者情報 Vol.12、No.3(2007)276-278.

ユーザー持込試料

<持ち込み試料の制限は次の通り>
・持ち込み試料は1グループ実試料1サンプル+標準試料2サンプル程度
・安全、法規上問題のないもの
・汚染、破損、紛失しても構わないもの
※持ち込み試料について、申込書に正確にご記載下さい。申込者多数の場合の判断基準にします。
※データ持ち帰り用に、USBメモリー(空き容量100MB以上)を持参して下さい。

その他の注意事項
  1. 本研修会の参加には SPring8User登録、放射線従事者登録などの諸手続きが完了されていることが必要です。
    また、持ち込み希望サンプルについては、安全管理室審査の手続きが必要となります。
    (必要な書類:利用申込書(様式10),放射線業務従事者登録申請書件放射線作業従事承諾書(様式5-1), 試料および薬品等持込申請書(様式9))
    ■参加受付後これらの手続きに関する案内をします。
  2. 学生の方は「学生保険」等に加入していることが必要です。
  3. 参加者への連絡などは全てe-mailで行います。参加の手続にはオンライン登録や書類のダウンロードが必要です。 インターネットに接続できる環境をご用意ください。
  4. 研修会への参加は無料です。
  5. 研修会参加者への旅費支給等はありません。
  6. 申込者多数の場合は、当方での調整に一任願います。
  7. 前日および当日に宿泊が必要な方は、 SPring-8交流施設をご利用いただけます(2000円/泊)。 決定次第各自手続きをお願い致します。
問合せ先

実習担当:(内容等について)
(財)高輝度光科学研究センター
産業利用推進室
担当: 本間徹生
Tel:0791-58-0802 ex.3508
e-mail : honma@spring8.or.jp

事務局
(財)高輝度光科学研究センター
研究調整部 研究調整課
担当: 垣口、濱中
Tel:0791-58-0839 Fax:0791-58-0988 
e-mail : workshops@spring8.or.jp