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締め切りました。
産業利用に役立つXAFSによる先端材料の局所状態解析2009
主催

(財)高輝度光科学研究センター(JASRI)

共催

SPring-8利用推進協議会「産業利用研究会」

後援

日本XAFS研究会
SPring-8利用者懇談会「X線スペクトロスコピー利用研究会」

日時

2009年01月27日(火)09:50-17:30(技術交流会:18:00-20:00)

2009年01月28日(水)09:30-14:30 (X線スペクトロスコピー利用研究報告会:15:00-16:30)

会場

 キャンパス・イノベーションセンター 東京地区 1F 国際会議室
アクセス :http://www.zam.go.jp/e00/e0000900.htm#a00
  技術交流会 (参加費:2,000円)

概要

XAFS分析の初心者を対象としたフリーの解析ソフト(Athena,Artemis)によるXAFS(X線吸収微細構造)スペクトル解析法の実習を行います。 また、放射光と中性子を組み合わせた分析やXANESを利用した解析例など最新のXAFS分析についてご紹介します。

プログラム

<1月27日(火)>

 
時刻 講義/実習  内容 講師
09:50-10:00 SPring-8講習会開会の挨拶
10:00-11:30 講義 放射光(XAFS)と中性子を中和的に利用した構造分析 中川 貴先生(東工大)
11:30-13:00 【昼食】
13:00-14:00 実習 フリーウェアAthenaによる動径構造関数の導出(Cu箔の解析)
※解析ソフト(Athena,Artemis)がインストール済みのノートパソコンをご用意ください。
※解析ソフト(Athena,Artemis)のインストール方法は下記をご参照ください。
本間 徹生(JASRI)
14:00-15:00 講義 FEFFを利用したデータの解析の実際 中川 貴先生(東工大)
15:00-15:30 【休憩】
15:30-17:30 実習 フリーウェアArtemisとFEFF(Ver.6)を利用したカーブフィッティング(ZnO結晶の解析)
※解析ソフト(Athena,Artemis)がインストール済みのノートパソコンをご用意ください。
※解析ソフト(Athena,Artemis)のインストール方法は下記をご参照ください。
本間 徹生(JASRI)
18:00-20:00 技術交流会

<1月28日(水)>

 
時刻 講義/実習  内容 講師
09:30-11:30 講義 3d遷移金属のX線吸収スペクトルのプレエッジピークについて 山本 孝先生(京大)
11:30-13:00 【昼食】
13:00-14:25 実習 デモデータもしくは持ち込みデータによるEXAFS分析
※解析ソフト(Athena,Artemis)がインストール済みのノートパソコンをご用意ください。
※解析ソフト(Athena,Artemis)のインストール方法は下記をご参照ください。
JASRIスタッフ
14:25-14:30 SPring-8講習会閉会の挨拶


≪解析ソフト(Athena,Artemis)のインストール方法≫

ダウンロードはこちらから

※Ver1.2.10(Windowsの場合は、ifeffit-1.2.10exe)をインストールして下さい。
注)このバージョンは、ファイルパスに日本語など2バイト文字があるとファイルを読めません。




X線スペクトロスコピー利用研究報告会

2009年01月28日(水)15:00-16:30
※研究会会員でない方も自由にご参加頂けます。SPring-8のビームラインの 現状などに関する報告もありますので、ご参加頂けますと幸いです。
<内容>

1.挨拶ならびに活動報告

2.施設からの報告(15分)

3.講演会(30分)
  多重散乱理論によるXANES解析の方法 
  永松 伸一(千葉大学大学院融合科学研究科)

4.ユーザーからの報告(15分)
  マイクロビームXRF-XAFSを用いた土壌中の有害元素の局所分布および化学状態の解析
  高橋 嘉夫(広大院理)
  光延 聖(静岡県大環境研)

5.自由討論

SPring-8講習会 対象者

XAFSデータ分析初心者の方

定員

40名程度 (定員になり次第、締め切ります。)
※定員に達しましたので、締め切りました。 
聴講のみ(PC持参なし)の参加も可。
申込者多数の場合は、当方での調整に一任願います。調整後、申込者に参加の可否についてご連絡致します。 同じ所属の方が参加を希望される場合、原則最大2名とし先着とさせて頂きます。

参加費

 講習会への参加は無料です。(ただし技術交流会参加費 : 2,000円)

申込方法

※定員に達しましたので、締め切りました。


申込開始

 2008年12月2日(火)15:00

申込締切

 2009年1月19日(月)12:00 (定員になり次第、締め切ります。)
※定員に達しましたので、締め切りました。 

注意事項

講習会参加者は下記いずれかの文献(特にEXAFSスペクトル解析方法の部分)をご一読下さい。
 ※XAFSスペクトルの基本的な解析方法についての講義はございません。
・宇田川康夫編、『X線吸収微細構造 XAFSの測定と解析』、学会出版センター
  (ただし、残念ながら絶版となっております。)
・太田俊明編、『X線吸収分光法 −XAFSとその応用−』、アイピーシー

問合せ先

内容についてのご質問:
(財)高輝度光科学研究センター(JASRI)
産業利用推進室  本間
TEL: 0791-58-0802 ex.3508
e-mail : honma@spring8.or.jp


利用研究促進部門 宇留賀
TEL: 0791-58-0802 ex.3836
e-mail : urugat@spring8.or.jp


利用研究促進部門 谷田
TEL: 0791-58-0802 ex.3880
e-mail : tanida@spring8.or.jp


参加登録に関する問合せ等:
(財)高輝度光科学研究センター
研究調整部 研究業務課
担当: 垣口、原田
Tel:0791-58-0839 Fax:0791-58-0988
e-mail : workshops@spring8.or.jp