締め切りました

SPring-8の利用経験が無い産業界の方を主な対象として、産業利用�UビームラインBL14B2においてXAFS測定研修会を行います。 測定は透過法、蛍光法（19素子ゲルマニウム半導体検出器を使用）および転換電子収量法を実施します。 以前に透過法しか実験経験が無く、蛍光法や転換電子収量法を習得したい方も対象とします。 本研修会は、BL14B2における実習を通して光学系・実験装置の特徴について学び、適切な実験計画に基づいて測定する技術の習得を目的とします。
実習では、参加者が持参した試料の測定（透過法、蛍光法、転換電子収量法）を行います。

主催：（公財）高輝度光科学研究センター
協賛：光ビームプラットフォーム

2014年6月5日(木) 10:10 〜 6月6日(金) 測定もしくは相談終了次第終了

大型放射光実験施設　SPring-8
所在地：兵庫県佐用郡佐用町光都1-1-1
講義、実習(測定)：中央管理棟1F上坪講堂、蓄積リング棟　BL14B2

アクセス　：　http://www.spring8.or.jp/ja/about_us/access/access_chart
キャンパスマップ　：　http://www.spring8.or.jp/ja/about_us/access/campus_map

　

時間	内容	詳細
【6月5日】 9:00-10:10	各自ユーザー手続き	人によって所要時間が違います。特に初めてご来所の方は、 早めに（9時頃までに）お越しいただく必要があります。
10:10-11:40	講義	XAFS分析の概要とXAFS測定方法について
11:40-13:00	【昼食】
13:00-	講義 実習	BL14B2の光学機器およびXAFS測定装置の説明 参加者持ち込み試料の測定
【6月6日】 10:00-12:00	課題申請および解析相談

・主にSPring-8の利用経験が無く、XAFS測定が初中級者の産業界の方 （2014A第2期以降に申請中または申請を計画している方）

約5グループ（1グループ3名まで）

・持ち込み試料が無い見学のみでの参加は出来ません。
・持ち込み試料について組成・形態・数量等について正確にご記入下さい。申込者多数の場合の判断基準となります。
・透過法または多素子半導体検出器を使用した蛍光法および転換電子収量法によるXAFS測定に適さないなど 実習に適さない試料の場合は測定をお断りすることがあります。
・これまでに開催した同様の研修会に参加されたことが無い産業界の方を優先します。
・申込者多数の場合は、当方での調整に一任願います。調整後、全ての申込者に参加の可否についてご連絡致します。 申込順ではありませんのでご注意下さい。（お早めにお申し込み頂いた場合でもご参加頂けない場合があります。）
・同じ所属の方が参加を希望される場合、先着3名までとさせて頂きます。
・申込者多数の場合は、締切日前でも募集を終了することがあります。 　研修会への参加は無料です。

締め切りました。

2014年5月8日（木）12：00
締め切りました。

１、持ち込み試料の制限は次の通り
・持ち込み試料は1グループ5サンプル以内（ただし、1グループの持ち時間は、蛍光法、転換電子収量法の場合、 装置の切り換え及び調整を含め2時間程度を予定しています。透過法のみの場合は、1時間程度を予定しています。）
・安全、法規上問題のないもの
・汚染，破損，紛失しても構わないもの
※測定は、室温・大気中で行います。
※申込者多数の場合は、放射光施設関係者の方などは、ご参加頂けない場合があります。
※持ち込み試料について、申込書に正確にご記載下さい。申込者多数の場合の判断基準にします。
※申込者多数の場合は、自動XAFS測定システムの利用が可能な持ち込み試料(粉末試料など)の方を優先します。
※実習に適さない試料の場合は測定をお断りすることがあります。
※実習日以前に、測定試料等について事前に打ち合わせをさせて頂くことがあります。
※データ持ち帰り用に、USBメモリー（空き容量100MB以上）を持参して下さい。

２、本研修会の参加にはSPring-8 User登録、放射線従事者登録などの諸手続きが完了されていることが必要です。
また、持ち込み試料については、安全管理室審査の手続きが必要となります。
（必要な書類：利用申込書(様式10),外来放射線作業者登録申請書(様式5-1),
　試料および薬品等申請書(様式9))
　※参加決定後これらの手続きに関してご案内します。
★　ユーザー登録はこちらから
★　必要書類のダウンロードはこちらから

３、研修会参加者は事前に下記文献を参照してきて下さい。
- XAFS測定: 宇田川康夫編、『X線吸収微細構造　XAFSの測定と解析』学会出版センター
　　　（ただし、残念ながら絶版となっております）
　　　大田俊明編、『X線吸収分光法−XAFSとその応用−』アイピーシー
- BL14B2: T. Honma, H. Oji, S. Hirayama, Y. Taniguchi, H. Ofuchi and M. Takagaki, AIP Conf. Proc. 1234 (2010) 13-16.

４、学生の方は「学生保険」等に加入していることが必要です。

５、参加者への連絡などは全てe-mailで行います。参加の手続にはオンライン登録や書類のダウンロードが必要です。 インターネットに接続できる環境をご用意下さい。

６、研修会への参加は無料です。

７、研修会参加者への旅費支給等はありません。

８、申込者多数の場合の実習への参加の可否の調整は、当方での調整に一任願います。

９、申込者多数の場合は、締切日以前に募集を終了することがあります。

１０、前日および当日に宿泊が必要な方は、 SPring-8交流施設 をご利用いただけます(1室シングル2,000円/泊、ツイン3,000円/泊)。
　※参加決定後これらの手続きに関してご案内します。

実習担当：（内容等について）
(公財)高輝度光科学研究センター (JASRI)
産業利用推進室
担当：　本間 徹生　e-mail : honma@spring8.or.jp
　　　　高垣 昌史　e-mail : takagaki@spring8.or.jp

事務局：（手続き等について）
(公財)高輝度光科学研究センター (JASRI)
研究調整部 研究業務課
担当：　津田 綾女・守屋 八重・田中　美帆
Tel：0791-58-0924　Fax：0791-58-0830　
e-mail : workshops@spring8.or.jp