大型放射光施設SPring-8は昨年供用開始から10年を迎え、今年は次の10年に向けて新たな一歩を踏み出す重要な年であります。このような認識の下、産業界ユーザーを主としたいくつかの専用ビームラインあるいは(財)高輝度光科学研究センター(JASRI)の積極的支援で利用される共用ビームラインでは、今や産業利用が幅広い業種に拡大し、我が国の産業振興と経済の活性化には、なくてはならない存在になってきています。
このように産業界に開かれた共同利用施設へと着実に進展している現状を踏まえ、今年もSPring-8での広汎な産業利用成果の発表を通じて、産業界における放射光の有効性を多くの方に知っていただくとともに、産業界ユーザーの相互交流を目的とする産業利用報告会を9月18、19日に日本科学未来館(東京・お台場)で開催します。本報告会は、産業用専用ビームライン建設利用共同体(サンビーム)、兵庫県((財)ひょうご科学技術協会:HSTA)、JASRI、さらに今年は蛋白構造解析コンソーシアムも協賛して、それぞれの発表会(報告会)をジョイントした形態で構成しており、口頭発表・ポスター発表および技術交流会を開催します。
最近の産業利用状況と研究成果を知るのに絶好の機会ですので奮ってご参加ください。なお、今回は放射光の最先端の成果をご紹介いただく2件の招待講演も予定しております。2度目の東京開催でもありますので、例年にも増して多数の皆様にご参加いただきたく思います。
(財)高輝度光科学研究センター(JASRI)
産業用専用ビームライン建設利用共同体(SUNBEAM CONSORTIUM)
(財)ひょうご科学技術協会(HSTA)
SPring-8利用推進協議会
蛋白質構造解析コンソーシアム
2008年9月18日(木) 10:00〜17:00; 技術交流会 17:30〜19:30
2008年9月19日(金) 09:30〜15:00
日本科学未来館 (東京都江東区青海2-41)
アクセス : http://www.miraikan.jst.go.jp/j/guide/map_index.html
口頭発表 7階 HAL みらいCAN ホール
ポスター発表 7階 INH イノベーションホール
開会 あいさつ |
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10:00- |
(財)高輝度光科学研究センター 副会長 | 松井 純爾 | 兵庫県放射光ナノテクセンター センター長 | 飯島 賢二 | サンビーム共同体運営委員長(松下電器) |
来賓挨拶 | 林 孝浩 | 文部科学省 大型放射光施設利用推進室長 | |
招待講演(I) |
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10:30-11:30 |
木下 豊彦 |
(財)高輝度光科学研究センター |
SPring-8における軟エックス線および赤外分光の応用 |
休憩 |
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オーラル発表 サンビーム |
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12:30-13:10 |
尾崎 伸司 |
松下電器産業(株) |
サンビーム設備更新報告 |
13:10-13:30 |
井頭 賢一郎 |
川崎重工業(株) |
X線回折法によるガスタービン用Ni基超耐熱合金のクリープ劣化診断 |
13:30-13:50 |
斎藤 吉広 |
住友電気工業(株) |
X線散乱、XAFS、MDシミュレーションを用いた増幅用ファイバの構造解析 |
13:50-14:10 |
中野 秀之 |
(株)豊田中央研究所 |
シリコンナノシートの合成と面内構造解析 |
14:10-14:30 |
與名本 欣樹 |
(株)日立製作所 |
半導体用シリサイド電極の局所構造解析 |
休憩 |
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オーラル発表 ひょうご |
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15:00-15:20 |
道上 敦生 |
日亜化学工業(株) |
マイクロビームX線を用いた窒化物半導体結晶評価 |
15:20-15:40 |
末広 省吾 |
(株)住化分析センター |
放射光による固体高分子形燃料電池の生成水観察 |
15:40-16:00 |
高野 秀和 |
兵庫県立大学大学院 |
BL24XUにおけるマイクロビーム、マイクロイメージングの現状と利用例 |
16:00-16:20 |
立石 純一郎 |
(株)アシックス |
X線小角散乱法によるくり返し変形ゴム中のフィラー分散状態解析 |
16:20-16:40 |
坂本 直紀 |
旭化成(株) |
超小角X線散乱による相分離現象の解析 |
16:40-17:00 |
辻 淳一 |
(株)東レリサーチセンター |
放射光を用いた薄膜材料のXAFS分析 |
17:30- 技術交流会(7Fレストラン basara) |
招待講演(II) |
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9:30-10:30 |
野村 昌治 |
Photon Factory |
PFにおけるXAFSと関連する産業利用 | ||
ポスターセッションコアタイム |
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10:30-12:30 |
下記参照 |
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オーラル発表 JASRI | |||||
13:00-13:30 |
長谷川 浩 |
金沢大学 |
長谷川 浩 |
金沢大学 |
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13:30-14:00 |
増田 勝彦 |
田辺三菱製薬(株) |
増田 勝彦 |
田辺三菱製薬(株) |
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14:00-14:30 |
則竹 達夫 |
(株)豊田中央研究所 |
則竹 達夫 |
(株)豊田中央研究所 |
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14:30-15:00 |
古澤 孝弘 |
大阪大学 |
超微細加工レジスト材料における酸発生剤分布の研究 |
小野寺 純一 |
東京応化工業(株) |
閉会 あいさつ | 15:00-15:10 |
吉良 爽 | (財)高輝度光科学研究センター 理事長 |
コアタイム
奇数番号 10:40-11:30、
偶数番号 12:00-12:50
ポスター発表
JASRI ポスター発表
ポスター番号 | 発表責任者 |
所属 |
題名 |
実験責任者 |
所属 |
J01 |
矢代 航 | 東京大学 | MEMSにおける異種材料間直接接合のメカニズムの解明 | 矢代 航 | 東京大学 |
J02 |
古賀 智之 | (株)豊田中央研究所 | 微小角入射X線回折測定によるポリフェニレンサルファイド(PPS) 薄膜の(PPS/金属)界面における結晶構造解析 | 古賀 智之 | (株)豊田中央研究所 |
J03 |
木下 優子 | 日新イオン機器(株) | イオンビーム配向法によるポリイミド膜の分子配向Polyimide molecular orientation induced by ion beam irradiation |
木下 優子 | 日新イオン機器(株) |
J04 |
谷澤 寿徳 | 岩手大学大学院 | 自己組織化単分子膜上に成膜した有機半導体超薄膜の構造評価 | 吉本 則之 | 岩手大学 |
J05 |
吉村 博史 | 横浜市立大学 | カーボンナノウォールの成長メカニズムの解明 | 橘 勝 | 横浜市立大学 |
J06 |
近藤 大雄 | (株)半導体先端テクノロジーズ | 硬X線光電子分光によるカーボンナノチューブビア配線の上部及び下部電極コンタクト構造の解明 | 粟野 祐二 | (株)半導体先端テクノロジーズ |
J07 |
西辻 祥太郎 | 京都大学 | 超小角X線散乱法によるゴムに対するフィラーの分散状態に関する研究 | 網野 直也 | 横浜ゴム |
J08 |
冨永 哲雄 | JSR(株) | 末端を官能基修飾した高機能ゴム材料の開発(2) (超小角X線散乱(USAXS)によるシリカ分散状態の解析) |
冨永 哲雄 | JSR(株) |
J09 |
小幡 誉子 | 星薬科大学 | 種々の動物の角層細胞間脂質の構造解析と製剤成分適用による変化 | 小幡 誉子 | 星薬科大学 |
J10 |
竹原 孝二 | (株)カネボウ化粧品 | X線マイクロCTによる毛髪損傷構造の可視化 | 竹原 孝二 | (株)カネボウ化粧品 |
J11 |
藤井 孝太郎 | 東京工業大学大学院 | 放射光粉末回折法による粉末医薬品の結晶多形転移のin situ構造解析 | 寺田 勝英 | 製剤機械技術研究会/東邦大学 |
J12 |
高橋 永次 | 大阪大学大学院 | シックハウスガス可視化検知のためのベイポクロミック有機結晶の開発 | 高谷 光 | 大阪大学 |
J13 |
長村 光造 | (財)応用科学研究所 | 真性歪および有効弾性限を最適化したREBCO Coated Conductorの結晶成長条件の解明 | 長村 光造 | (財)応用科学研究所 |
J14 |
菖蒲 敬久 | (独)日本原子力研究開発機構 | XRD、SAXS利用による高速炉用フェライト鋼のナノ組織評価 | 菖蒲 敬久 | (独)日本原子力研究開発機構 |
J15 |
中東 重雄 | (財)発電設備技術検査協会 | 放射光CTイメージングによるステンレス鋼中の応力腐食割れ(SCC)き裂の検出 | 中東 重雄 | (財)発電設備技術検査協会 |
J16 |
中井 善一 | 神戸大学 | 高強度アルミニウム合金における腐食疲労損傷の発生・成長過程の観察 | 中井 善一 | 神戸大学 |
J17 |
矢加部 久孝 | 東京ガス(株) | X線応力測定法によるSOFC電解質応力のin-situ測定 | 矢加部 久孝 | 東京ガス(株) |
J18 |
福原 幹夫 | 東北大学 | Ni-Nb-Zr系金属ガラスのXAFS解析に基づいた機能性開拓 | 真壁 英一 | (株)BMG |
J19 |
上村 重明 | 住友電気工業(株) | X線回折用 雰囲気制御・焼成炉の開発 | 飯原 順次 | 住友電気工業(株) |
J20 |
大渕 博宣 | JASRI | 蛍光EXAFS法によるhigh-kゲート絶縁膜中Hf原子の局所構造解析(2) | 尾嶋 正治 | 東京大学 |
J21 |
榊 篤史 | 日亜化学工業(株) | 偏光XAFS測定を用いた半極性InGaN薄膜の局所構造解析 | 榊 篤史 | 日亜化学工業(株) |
J22 |
野崎 洋 | (株)豊田中央研究所 | リチウムイオン2次電池材料Li [LixMn2-x] O4 (0<=X<=1/3)の局所構造解析 | 野崎 洋 | (株)豊田中央研究所 |
J23 |
市川 貴之 | 広島大学 | XAFS法による水素貯蔵材料で作用する触媒の状態分析 | 市川 貴之 | 広島大学 |
J24 |
齋藤 範三 | 大阪府立大学 | XAFSによる微生物と銀イオンの相互作用についての検討 | 小西 康裕 | 大阪府立大学 |
J25 |
久保田 岳志 | 島根大学 | 高反応選択性を発現する固体パラジウム触媒の創成と構造解明:光学活性中間体合成のための実用不斉水素化触媒の開発 | 杉村 高志 | 兵庫県立大学 |
J26 |
渡邊 恒典 | 京都大学 | 共沈法により合成したGa2O3?Al2O3複合酸化物触媒の構造解析 | 岩本 伸司 | 京都大学 |
J51 |
國澤 直美 | (株)資生堂 | ヒト皮膚角層中の角層細胞間脂質の構造とバリア機能の関係に関する検討 | 國澤 直美 | (株)資生堂 |
J52 |
清水 克哉 | 大阪大学 | 高品質グラファイトフィルムからのダイヤモンドフィルム合成のその場観察 | 村上 睦明 | (株)カネカ |
J53 |
名越 正泰 | JFEスチール(株) | 微小角入射X線散乱によるMo添加耐食鋼の極薄腐食生成物層の構造解析 | 名越 正泰 | JFEスチール(株) |
J54 |
都竹 浩一郎 | 太陽誘電(株) | 微小部赤外分光法による低温焼成セラミックスの焼結状態解析 | 都竹 浩一郎 | 太陽誘電(株) |
J55 |
渡邉 展 伊村 宏之 |
(株)三菱化学科学技術研究センター | 白色LED用赤色蛍光体CaAlSiN3:Euの構造解析 | 渡邉 展 伊村 宏之 |
(株)三菱化学科学技術研究センター |
J56 |
尾崎 哲也 | (株)ジーエス・ユアサコーポレーション | 希土類-Mg-Ni系水素吸蔵合金の精密構造解析 | 綿田 正治 | (株)ジーエス・ユアサコーポレーション |
J57 |
正木 康浩 | 住友金属工業(株) | XAFSによる高活性光触媒材料の構造解析 XAFS Analysis of Highly Active Photocatalyst Materials | 正木 康浩 | 住友金属工業(株) |
J58 |
向出大平 | キヤノン(株) | X線イメージング技術を用いた固体高分子形燃料電池内の水のその場観察 | 野間 敬 | キヤノン(株) |
J59 |
吉木 昌彦 | (株)東芝 | 硬X線光電子分光法によるGaN表面のバンドベンディングプロファイル評価 | 吉木 昌彦 | (株)東芝 |
J60 |
金 成国 | (株)ユー・ジェー・ティー・ラボ | プラズマドーピングにより形成された極浅p+/n接合の化学結合状態に関しての硬X線光電子分光(HX-PES)による研究 | 金 成国 | (株)ユー・ジェー・ティー・ラボ |
サンビーム ポスター発表
ポスター番号 |
発表者 |
所属 |
題名 |
S01 |
飯原 順次 | 住友電気工業(株) | サンビーム設備更新報告1 ID単色器の液体窒素冷却化 |
S02 |
竹村 モモ子 | (株)東芝 | サンビーム設備更新報告2 蛍光X線装置改造 |
S03 |
淡路 直樹 | (株)富士通研究所 | サンビーム設備更新報告3 ID8軸回折計の導入と性能評価 |
S04 |
稲葉 雅之 | (株)神戸製鋼所 | サンビーム設備更新報告4 BM6軸回折計の導入と性能評価 |
S05 |
上田 和浩 | (株)日立製作所 | サンビーム設備更新報告5 マイクロビーム装置の更新と特性評価 |
S06 |
野中 敬正 | (株)豊田中央研究所 | サンビーム設備更新報告6 XAFS測定装置の更新 |
S07 |
米山 明男 | (株)日立製作所 | サンビーム設備更新報告7 フラットパネル検出器の性能評価と回折マッピングへの応用 |
S08 |
出口 博史 | (株)関西電力 | サンビーム設備更新報告8 その場計測用ガス取扱い設備 |
S09 |
井頭 賢一郎 | 川崎重工業(株) | X線回折法によるガスタービン用Ni基超耐熱合金のクリープ劣化診断 |
S10 |
稲葉 雅之 | (株)神戸製鋼所 | さび生成過程における微量添加元素のin-situ XAFS測定 |
S11 |
斎藤 吉広 | 住友電気工業(株) | X線散乱、XAFS、MDシミュレーションを用いた増幅用ファイバの構造解析 |
S12 |
飯原 順次 | 住友電気工業(株) | XAFS法を用いたタングステンめっき浴中のイオン状態解析 |
S13 |
工藤 喜弘 | ソニー(株) | リチウムイオン二次電池Sn系負極活物質のXAFS解析 |
S14 |
秋保 広幸 | (財)電力中央研究所 | in situXAFSを用いた微量金属の液相反応過程解析 |
S15 |
出口 博史 | 関西電力(株) | 実用サイズ低温作動固体酸化物形燃料電池セルの残留応力解析 |
S16 |
山崎 英之 | (株)東芝 | FEFFによる半導体材料のEXAFS解析 |
S17 |
中野 秀之 | (株)豊田中央研究所 | シリコンナノシートの合成と面内構造解析 |
S18 |
吉田 泰弘 | 日亜化学工業(株) | Liイオン二次電池正極材料InSituXAFS測定 |
S19 |
松本 匡史 | 日本電気(株) | カーボン担持貴金属微粒子のin situ局所構造解析 |
S20 |
今井 英人 | 日本電気(株) | 非白金系燃料電池触媒の局所構造解析 |
S21 |
與名本 欣樹 | (株)日立製作所 | 半導体用シリサイド電極の局所構造解析 |
S22 |
土井 修一 | (株)富士通研究所 | 新回折装置による1nmCMOSゲート酸化膜の12桁反射率測定 |
S23 |
野村 健二 | (株)富士通研究所 | 新蛍光装置による半導体パターンの10µμm領域のXAFS測定 |
S24 |
尾崎 伸司 | 松下電器産業(株) | 松下のサンビーム10年を振り返って |
S25 |
上原 康 | 三菱電機(株) | L特性X線を用いた第6周期元素化合物の状態分析法の検討(2) |
ひょうご科学技術協会ポスター発表
ポスター番号 |
発表者 |
所属 |
題名 |
H01 |
辻 卓也 | 兵庫県立大学 | 硬X線Young干渉計を用いた空間コヒーレンス評価法の開発 |
H02 |
堀川 智之 | 兵庫県立大学 | 高平行度X線マイクロビームによる酸化濃縮SGOIウェーハの結晶性評価 |
H03 |
奥村 健一 | 兵庫県立大学 | X線導波路の研究開発 |
H04 |
橋本 琢人 | 兵庫県立大学 | 結像光学系を用いた大視野高空間分解能X線CT光学系の開発 |
H05 |
矢口 和彦 | 富士シリシア化学(株) | シリカの粒子生成と成長について |
H06 |
武居 正史 | バンドー化学(株) | 低温〜室温燃結性を有する金属ナノ粒子の開発とナノ粒子形成過程のリアルタイム解析 |
H07 |
妹尾 政宣 | 住友ベークライト(株) | 放射光を利用したナノ粒子分散系の構造解析 |
H08 |
原田 雅史 | (株)豊田中央研究所 | ポリフェニレンサルファイドのナノ構造解析 |
H09 |
清瀧 元 | 川崎重工業(株) | モーターサイクル用排ガス浄化触媒の劣化機構の解明 |
H10 |
道上 敦生 |
日亜化学工業(株) |
マイクロビームX線を用いた窒化物半導体結晶評価 |
H11 |
高橋 照央 |
(株)住化分析センター |
放射光を用いた固体高分子型燃料電池材料のイメージング |
H12 |
竹田 晋吾 |
兵庫県放射光ナノテク研究所 |
兵庫県ビームラインBL24XUの紹介 |
H13 |
桑本 滋生 |
兵庫県放射光ナノテク研究所 |
兵庫県ビームラインBL08B2の現状 |
H14 |
漆原 良昌 |
兵庫県放射光ナノテク研究所 |
兵庫県放射光ナノテク研究所内分析室装置の紹介 |
蛋白質構造解析コンソーシアム ポスター発表
ポスター番号 |
発表者 |
所属 |
題名 |
P01 |
鈴木 健司 |
蛋白質構造解析コンソーシアム |
蛋白質構造解析コンソーシアムについて |
200名程度
参加費
技術交流会参加費 : 2000円
問合せ先
(財)高輝度光科学研究センター
研究調整部 研究業務課 産業利用推進室 荒木実穂子/永井 あゆみ
Tel:0791-58-0924 Fax:0791-58-0830 e-mail : industry@spring8.or.jp