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SPring-8産業利用報告会(第5回)
締め切りました
趣旨および概要

大型放射光施設SPring-8は昨年供用開始から10年を迎え、今年は次の10年に向けて新たな一歩を踏み出す重要な年であります。このような認識の下、産業界ユーザーを主としたいくつかの専用ビームラインあるいは(財)高輝度光科学研究センター(JASRI)の積極的支援で利用される共用ビームラインでは、今や産業利用が幅広い業種に拡大し、我が国の産業振興と経済の活性化には、なくてはならない存在になってきています。  このように産業界に開かれた共同利用施設へと着実に進展している現状を踏まえ、今年もSPring-8での広汎な産業利用成果の発表を通じて、産業界における放射光の有効性を多くの方に知っていただくとともに、産業界ユーザーの相互交流を目的とする産業利用報告会を9月18、19日に日本科学未来館(東京・お台場)で開催します。本報告会は、産業用専用ビームライン建設利用共同体(サンビーム)、兵庫県((財)ひょうご科学技術協会:HSTA)、JASRI、さらに今年は蛋白構造解析コンソーシアムも協賛して、それぞれの発表会(報告会)をジョイントした形態で構成しており、口頭発表・ポスター発表および技術交流会を開催します。  最近の産業利用状況と研究成果を知るのに絶好の機会ですので奮ってご参加ください。なお、今回は放射光の最先端の成果をご紹介いただく2件の招待講演も予定しております。2度目の東京開催でもありますので、例年にも増して多数の皆様にご参加いただきたく思います。

主催

(財)高輝度光科学研究センター(JASRI)
産業用専用ビームライン建設利用共同体(SUNBEAM CONSORTIUM)
(財)ひょうご科学技術協会(HSTA)

共催

SPring-8利用推進協議会

協賛

蛋白質構造解析コンソーシアム

日時

2008年9月18日(木) 10:00〜17:00; 技術交流会 17:30〜19:30
2008年9月19日(金) 09:30〜15:00

会場

日本科学未来館 (東京都江東区青海2-41)
アクセス : http://www.miraikan.jst.go.jp/j/guide/map_index.html
口頭発表    7階 HAL みらいCAN ホール
ポスター発表  7階 INH イノベーションホール 

申込方法  申込みは締切ました。

プログラム

9月18日(1日目)
ポスターは9/18,19の2日間掲示。奇数番号コアタイム 9/19 10:40-11:30 偶数番号コアタイム 9/19 12:00-12:50
開会 あいさつ
10:00-
平野 拓也 (財)高輝度光科学研究センター 副会長
松井 純爾 兵庫県放射光ナノテクセンター センター長
飯島 賢二 サンビーム共同体運営委員長(松下電器)
来賓挨拶
林 孝浩
文部科学省 大型放射光施設利用推進室長
招待講演(I)
10:30-11:30
 木下 豊彦
(財)高輝度光科学研究センター 
SPring-8における軟エックス線および赤外分光の応用
休憩
オーラル発表 サンビーム
12:30-13:10
 尾崎 伸司
 松下電器産業(株) 
サンビーム設備更新報告
13:10-13:30
 井頭 賢一郎
 川崎重工業(株) 
X線回折法によるガスタービン用Ni基超耐熱合金のクリープ劣化診断
13:30-13:50
 斎藤 吉広
 住友電気工業(株) 
X線散乱、XAFS、MDシミュレーションを用いた増幅用ファイバの構造解析
13:50-14:10
 中野 秀之
(株)豊田中央研究所 
シリコンナノシートの合成と面内構造解析
14:10-14:30
 與名本 欣樹
(株)日立製作所 
半導体用シリサイド電極の局所構造解析
休憩
オーラル発表 ひょうご
15:00-15:20
 道上 敦生
 日亜化学工業(株) 
マイクロビームX線を用いた窒化物半導体結晶評価
15:20-15:40
 末広 省吾
 (株)住化分析センター 
放射光による固体高分子形燃料電池の生成水観察
15:40-16:00
 高野 秀和
 兵庫県立大学大学院 
BL24XUにおけるマイクロビーム、マイクロイメージングの現状と利用例
16:00-16:20
 立石 純一郎
 (株)アシックス 
X線小角散乱法によるくり返し変形ゴム中のフィラー分散状態解析
16:20-16:40
 坂本 直紀
 旭化成(株) 
超小角X線散乱による相分離現象の解析
16:40-17:00
 辻 淳一
 (株)東レリサーチセンター 
放射光を用いた薄膜材料のXAFS分析
17:30- 技術交流会(7Fレストラン basara)

9月19日(2日目)
招待講演(II)
9:30-10:30
 野村 昌治
 Photon Factory 
PFにおけるXAFSと関連する産業利用
ポスターセッションコアタイム
10:30-12:30
 下記参照
オーラル発表 JASRI
13:00-13:30
 長谷川 浩
 金沢大学 
長谷川 浩
金沢大学
13:30-14:00
 増田 勝彦
 田辺三菱製薬(株) 
増田 勝彦
田辺三菱製薬(株)
14:00-14:30
 則竹 達夫
 (株)豊田中央研究所 
則竹 達夫
(株)豊田中央研究所
14:30-15:00
 古澤 孝弘
 大阪大学 
超微細加工レジスト材料における酸発生剤分布の研究
小野寺 純一
東京応化工業(株)
閉会 あいさつ
15:00-15:10
吉良 爽(財)高輝度光科学研究センター 理事長

 

コアタイム 
 奇数番号 10:40-11:30、 
 偶数番号 12:00-12:50

ポスター発表
JASRI ポスター発表

ポスター番号
発表責任者
所属
題名
実験責任者
所属
J01
矢代 航 東京大学 MEMSにおける異種材料間直接接合のメカニズムの解明 矢代 航 東京大学
J02
古賀 智之 (株)豊田中央研究所 微小角入射X線回折測定によるポリフェニレンサルファイド(PPS) 薄膜の(PPS/金属)界面における結晶構造解析 古賀 智之 (株)豊田中央研究所
J03
木下 優子 日新イオン機器(株) イオンビーム配向法によるポリイミド膜の分子配向Polyimide molecular
orientation induced by ion beam irradiation
木下 優子 日新イオン機器(株)
J04
谷澤 寿徳 岩手大学大学院 自己組織化単分子膜上に成膜した有機半導体超薄膜の構造評価 吉本 則之 岩手大学
J05
吉村 博史 横浜市立大学 カーボンナノウォールの成長メカニズムの解明 橘 勝 横浜市立大学
J06
近藤 大雄 (株)半導体先端テクノロジーズ 硬X線光電子分光によるカーボンナノチューブビア配線の上部及び下部電極コンタクト構造の解明 粟野 祐二 (株)半導体先端テクノロジーズ
J07
西辻 祥太郎 京都大学 超小角X線散乱法によるゴムに対するフィラーの分散状態に関する研究 網野 直也 横浜ゴム
J08
冨永 哲雄 JSR(株) 末端を官能基修飾した高機能ゴム材料の開発(2)
(超小角X線散乱(USAXS)によるシリカ分散状態の解析)
冨永 哲雄 JSR(株)
J09
小幡 誉子 星薬科大学 種々の動物の角層細胞間脂質の構造解析と製剤成分適用による変化 小幡 誉子 星薬科大学
J10
竹原 孝二 (株)カネボウ化粧品 X線マイクロCTによる毛髪損傷構造の可視化 竹原 孝二 (株)カネボウ化粧品
J11
藤井 孝太郎 東京工業大学大学院 放射光粉末回折法による粉末医薬品の結晶多形転移のin situ構造解析 寺田 勝英 製剤機械技術研究会/東邦大学
J12
高橋 永次 大阪大学大学院 シックハウスガス可視化検知のためのベイポクロミック有機結晶の開発 高谷 光 大阪大学
J13
長村 光造 (財)応用科学研究所 真性歪および有効弾性限を最適化したREBCO Coated Conductorの結晶成長条件の解明 長村 光造 (財)応用科学研究所
J14
菖蒲 敬久 (独)日本原子力研究開発機構 XRD、SAXS利用による高速炉用フェライト鋼のナノ組織評価 菖蒲 敬久 (独)日本原子力研究開発機構
J15
中東 重雄 (財)発電設備技術検査協会 放射光CTイメージングによるステンレス鋼中の応力腐食割れ(SCC)き裂の検出 中東 重雄 (財)発電設備技術検査協会
J16
中井 善一 神戸大学 高強度アルミニウム合金における腐食疲労損傷の発生・成長過程の観察 中井 善一 神戸大学
J17
矢加部 久孝 東京ガス(株) X線応力測定法によるSOFC電解質応力のin-situ測定 矢加部 久孝 東京ガス(株)
J18
福原 幹夫 東北大学 Ni-Nb-Zr系金属ガラスのXAFS解析に基づいた機能性開拓 真壁 英一 (株)BMG
J19
上村 重明 住友電気工業(株) X線回折用 雰囲気制御・焼成炉の開発 飯原 順次 住友電気工業(株)
J20
大渕 博宣 JASRI 蛍光EXAFS法によるhigh-kゲート絶縁膜中Hf原子の局所構造解析(2) 尾嶋 正治 東京大学
J21
榊 篤史 日亜化学工業(株) 偏光XAFS測定を用いた半極性InGaN薄膜の局所構造解析 榊 篤史 日亜化学工業(株)
J22
野崎 洋 (株)豊田中央研究所 リチウムイオン2次電池材料Li [LixMn2-x] O4 (0<=X<=1/3)の局所構造解析  野崎 洋 (株)豊田中央研究所
J23
市川 貴之 広島大学 XAFS法による水素貯蔵材料で作用する触媒の状態分析 市川 貴之 広島大学
J24
齋藤 範三 大阪府立大学 XAFSによる微生物と銀イオンの相互作用についての検討 小西 康裕 大阪府立大学
J25
久保田 岳志 島根大学 高反応選択性を発現する固体パラジウム触媒の創成と構造解明:光学活性中間体合成のための実用不斉水素化触媒の開発 杉村 高志 兵庫県立大学
J26
渡邊 恒典 京都大学 共沈法により合成したGa2O3?Al2O3複合酸化物触媒の構造解析 岩本 伸司 京都大学
J51
國澤 直美 (株)資生堂 ヒト皮膚角層中の角層細胞間脂質の構造とバリア機能の関係に関する検討 國澤 直美 (株)資生堂
J52
清水 克哉 大阪大学 高品質グラファイトフィルムからのダイヤモンドフィルム合成のその場観察 村上 睦明 (株)カネカ
J53
名越 正泰 JFEスチール(株) 微小角入射X線散乱によるMo添加耐食鋼の極薄腐食生成物層の構造解析 名越 正泰 JFEスチール(株)
J54
都竹 浩一郎 太陽誘電(株) 微小部赤外分光法による低温焼成セラミックスの焼結状態解析 都竹 浩一郎 太陽誘電(株)
J55
渡邉 展
伊村 宏之
(株)三菱化学科学技術研究センター 白色LED用赤色蛍光体CaAlSiN3:Euの構造解析 渡邉 展
伊村 宏之
(株)三菱化学科学技術研究センター
J56
尾崎 哲也 (株)ジーエス・ユアサコーポレーション 希土類-Mg-Ni系水素吸蔵合金の精密構造解析 綿田 正治 (株)ジーエス・ユアサコーポレーション
J57
正木 康浩 住友金属工業(株) XAFSによる高活性光触媒材料の構造解析 XAFS Analysis of Highly Active Photocatalyst Materials 正木 康浩 住友金属工業(株)
J58
向出大平 キヤノン(株) X線イメージング技術を用いた固体高分子形燃料電池内の水のその場観察 野間 敬 キヤノン(株)
J59
吉木 昌彦 (株)東芝 硬X線光電子分光法によるGaN表面のバンドベンディングプロファイル評価 吉木 昌彦 (株)東芝
J60
金 成国 (株)ユー・ジェー・ティー・ラボ プラズマドーピングにより形成された極浅p+/n接合の化学結合状態に関しての硬X線光電子分光(HX-PES)による研究 金 成国 (株)ユー・ジェー・ティー・ラボ

サンビーム ポスター発表

ポスター番号
発表者
所属
題名
S01
飯原 順次 住友電気工業(株) サンビーム設備更新報告1 ID単色器の液体窒素冷却化
S02
竹村 モモ子 (株)東芝 サンビーム設備更新報告2 蛍光X線装置改造
S03
淡路 直樹 (株)富士通研究所 サンビーム設備更新報告3 ID8軸回折計の導入と性能評価
S04
稲葉 雅之 (株)神戸製鋼所 サンビーム設備更新報告4 BM6軸回折計の導入と性能評価
S05
上田 和浩 (株)日立製作所 サンビーム設備更新報告5 マイクロビーム装置の更新と特性評価
S06
野中 敬正 (株)豊田中央研究所 サンビーム設備更新報告6 XAFS測定装置の更新
S07
米山 明男 (株)日立製作所 サンビーム設備更新報告7 フラットパネル検出器の性能評価と回折マッピングへの応用
S08
出口 博史 (株)関西電力 サンビーム設備更新報告8 その場計測用ガス取扱い設備
S09
井頭 賢一郎 川崎重工業(株) X線回折法によるガスタービン用Ni基超耐熱合金のクリープ劣化診断
S10
稲葉 雅之 (株)神戸製鋼所 さび生成過程における微量添加元素のin-situ XAFS測定
S11
斎藤 吉広 住友電気工業(株) X線散乱、XAFS、MDシミュレーションを用いた増幅用ファイバの構造解析
S12
飯原 順次 住友電気工業(株) XAFS法を用いたタングステンめっき浴中のイオン状態解析
S13
工藤 喜弘 ソニー(株) リチウムイオン二次電池Sn系負極活物質のXAFS解析
S14
秋保 広幸 (財)電力中央研究所 in situXAFSを用いた微量金属の液相反応過程解析
S15
出口 博史 関西電力(株) 実用サイズ低温作動固体酸化物形燃料電池セルの残留応力解析
S16
山崎 英之 (株)東芝 FEFFによる半導体材料のEXAFS解析
S17
中野 秀之 (株)豊田中央研究所 シリコンナノシートの合成と面内構造解析
S18
吉田 泰弘 日亜化学工業(株) Liイオン二次電池正極材料InSituXAFS測定
S19
松本 匡史 日本電気(株) カーボン担持貴金属微粒子のin situ局所構造解析
S20
今井 英人 日本電気(株) 非白金系燃料電池触媒の局所構造解析
S21
與名本 欣樹 (株)日立製作所 半導体用シリサイド電極の局所構造解析
S22
土井 修一 (株)富士通研究所 新回折装置による1nmCMOSゲート酸化膜の12桁反射率測定
S23
野村 健二 (株)富士通研究所 新蛍光装置による半導体パターンの10µμm領域のXAFS測定
S24
尾崎 伸司 松下電器産業(株) 松下のサンビーム10年を振り返って
S25
上原 康 三菱電機(株) L特性X線を用いた第6周期元素化合物の状態分析法の検討(2)

ひょうご科学技術協会ポスター発表

ポスター番号
発表者
所属
題名
H01
辻 卓也 兵庫県立大学 硬X線Young干渉計を用いた空間コヒーレンス評価法の開発
H02
堀川 智之 兵庫県立大学 高平行度X線マイクロビームによる酸化濃縮SGOIウェーハの結晶性評価
H03
奥村 健一 兵庫県立大学 X線導波路の研究開発
H04
橋本 琢人 兵庫県立大学 結像光学系を用いた大視野高空間分解能X線CT光学系の開発
H05
矢口 和彦 富士シリシア化学(株) シリカの粒子生成と成長について
H06
武居 正史 バンドー化学(株) 低温〜室温燃結性を有する金属ナノ粒子の開発とナノ粒子形成過程のリアルタイム解析
H07
妹尾 政宣 住友ベークライト(株) 放射光を利用したナノ粒子分散系の構造解析
H08
原田 雅史 (株)豊田中央研究所 ポリフェニレンサルファイドのナノ構造解析
H09
清瀧 元 川崎重工業(株) モーターサイクル用排ガス浄化触媒の劣化機構の解明
H10
道上 敦生
日亜化学工業(株)
マイクロビームX線を用いた窒化物半導体結晶評価
H11
高橋 照央
(株)住化分析センター
放射光を用いた固体高分子型燃料電池材料のイメージング
H12
竹田 晋吾
兵庫県放射光ナノテク研究所
兵庫県ビームラインBL24XUの紹介
H13
桑本 滋生
兵庫県放射光ナノテク研究所
兵庫県ビームラインBL08B2の現状
H14
漆原 良昌
兵庫県放射光ナノテク研究所
兵庫県放射光ナノテク研究所内分析室装置の紹介

蛋白質構造解析コンソーシアム ポスター発表

ポスター番号
発表者
所属
題名
P01
 鈴木 健司
蛋白質構造解析コンソーシアム
蛋白質構造解析コンソーシアムについて


定員
 200名程度

参加費
 無料(配布資料あり)
 技術交流会参加費 : 2000円

申込方法  申込みは締切ました。


問合せ先
 事務局
 (財)高輝度光科学研究センター
 研究調整部 研究業務課 産業利用推進室 荒木実穂子/永井 あゆみ
 Tel:0791-58-0924 Fax:0791-58-0830 e-mail : industry@spring8.or.jp