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第６回　SPring-8産業利用報告会　ポスター発表
ポスター発表コアタイム

2009年9月3日(木） 15：30～18：00　

場所

東京ステーションコンファレンス　５階　ロビー

ポスター配置

ポスター配置図

ＪＡＳＲＩ
No. 発表代表者 所属 題名 実験責任者
JP01 岩崎　望 高知大学 SR-IR分析による宝石サンゴ成長速度の推定 岩崎　望
JP02 長谷川　浩 金沢大学 放射光粉末X線回折法による宝石珊瑚骨軸の炭酸塩構造解析 長谷川　浩
JP03 中井　善一 神戸大学 高強度アルミニウム合金における腐食疲労過程のその場観察 中井　善一
JP04 中東　重雄 （財）発電設備技術検査協会 放射光CTイメージングによるステンレス鋼の応力腐食割れき裂の3次元観察 中東　重雄
JP05 安田　博文 日産自動車（株） X線イメージングによるリチウムイオン二次電池合金負極の充放電に伴う電極構造のその場観察 草地　雄樹
JP06 染川　貴亮 東京ガス（株） X線応力測定法による横縞形SOFC電解質応力のin-situ測定 矢加部　久孝
JP07 石原　顕光 横浜国立大学 固体高分子形燃料電池に用いる非白金酸素還元触媒の局所構造解析 石原　顕光
JP08 篠田　弘造 東北大学 表面敏感XAFSによる製鋼スラグの化学状態分析 篠田　弘造
JP09 前川　智弘 岐阜薬科大学 ゼオライトを担体とした新規Pd触媒の官能基選択性発現メカニズム解明を目的としたゼオライト細孔内のPd分布の解析 前川　智弘
JP10 吉村　昌寿 エヌ・イーケムキャット（株） サブナノサイズに制御されたデンドリマー内包パラジウム粒子触媒の開発 高木　由紀夫
JP11 小泉　直人 東北大学 Co触媒のFT合成活性と表面構造に及ぼすキレート剤の影響 小泉　直人
JP12 田辺　健治 東京大学 ボロン系アモルファス固体への遷移金属ドープによる結合転換と高抵抗チップ材料の開発に関する研究 木村　薫
JP13 岡島　敏浩 九州シンクロトロン光研究センター 結晶化ガラス中に添加したユーロピウムイオンの局所構造 岡島　敏浩
JP14 橋新　剛 立命館大学 チタン酸バリウム系PTCサーミスタにおける微量副生物の同定 玉置　純
JP15 菊間　淳 旭化成（株） トバモライト生成過程のその場X線回折 松野　信也
JP16 表　和彦 （株）リガク X線散乱法による半導体デバイスパターン形状計測 表　和彦
JP17 吉本　則之 岩手大学 チオフェン系有機半導体超薄膜の構造評価 吉本　則之
JP18 古澤　孝弘 大阪大学 X線小角散乱法を用いた超薄膜微細加工レジスト材料中の密度ゆらぎの研究 小野寺　純一
JP19 小寺　賢 神戸大学 微小角入射X線散乱によるラビング処理を施したポリエステルフィルムの表面構造 吉谷　博司
JP20 濵口　梓 帝人（株） X線回折法による新規高性能ポリベンズオキサゾール単繊維の高応力下における結晶構造変化の測定 畳開　真之
JP21 山本　友之 日本合成化学工業（株） エチレン-ビニルアルコール共重合体(EVOH)のシュリンクに伴う構造および配向変化の評価 山本　友之
JP22 今吉　憲幸 ＳＡＩ（株） 粉末X線回折における選択配向性の低減 今吉　憲幸
JP23 陰地　宏 ＪＡＳＲＩ 自動XAFS測定システムの開発
JP24 大坂 恵一 ＪＡＳＲＩ 産業利用ビームラインBL19B2における粉末回折測定ハイスループット化

サンビーム
No. 発表代表者 所属 題名
S01 中山　武典 （株）神戸製鋼所 金属材料開発におけるSPring-8の活用(口頭発表あり)
S02 山口 聡 （株）豊田中央研究所 2次元XAFS法を用いた二次電池材料の価数分布評価(口頭発表あり)
S03 川村　朋晃 日亜化学工業（株） 全反射X線回折による窒化物超格子の解析(口頭発表あり)
S04 上田　和浩 （株）日立製作所 XMCDによるネオジム磁石の磁気評価(口頭発表あり)
S05 土井　修一 （株）富士通研究所 X線反射率、回折によるMnIr交換結合膜の磁気構造評価(口頭発表あり)
S06 清瀧　元 川崎重工業（株） モーターサイクル用排ガス浄化触媒の劣化機構の解明
S07 出口　博史 関西電力（株） 二酸化炭素を吸収したアミン水溶液のX線散乱解析
S08 秋保　広幸 （財）電力中央研究所 XAFSを用いた溶液中微量金属の形態解明と反応機構解析
S09 北原　周 （株）神戸製鋼所 高エネルギーX線を用いた鋼板のin-situ評価
S10 稲葉　雅之 （株）神戸製鋼所 微量金属元素を対象としたSR利用in-situ評価
S11 斎藤　吉広 住友電気工業（株） X線散乱/XAFSによるEr添加光ファイバの構造解析
S12 飯原　順次 住友電気工業（株） X線回折法による金属ガラス界面酸化物の非破壊分析法の開発
S13 工藤　喜弘 ソニー（株） XAFS法によるリチウムイオン二次電池Sn系負極材料の局所構造解析
S14 高石　理一郎 （株）東芝 19素子SSDを用いたAsドーパントの高感度XAFS測定
S15 山崎　英之 （株）東芝 蛍光収量XAFSによるランタンハフネートゲート絶縁膜の局所構造解析
S16 吉田　泰弘 日亜化学工業（株） Ｌｉイオン二次電池正極材料in-situ XAFS測定
S17 松本　匡史 日本電気（株） In situ XRDおよびXAFSを用いた燃料電池アノード触媒電極の劣化解析
S18 銭谷　勇磁 パナソニック（株） In-situ XAFS測定による白金触媒の酸素還元反応
S19 米山　明男 （株）日立製作所 サンビームBL-16B2の大視野化
S20 野村　健二 （株）富士通研究所 新光触媒ＴｉドープアパタイトのXAFS、Ｘ線回折による評価
S21 上原　康 三菱電機（株） L特性X線を用いた第6周期元素化合物の状態分析法の検討（３）
ひょうご科学技術協会
No. 発表代表者 所属 題名
HP-01 竹田　晋吾 (財）ひょうご科学技術協会 BL24XU の現状（仮）
HP-02 桑本　滋生 (財）ひょうご科学技術協会 BL08B2 の現状（仮）
HP-03 李　雷 (財）ひょうご科学技術協会 兵庫県放射光ナノテク研究所の紹介（仮）
HP-04 高橋　照央 (株）住化分析センター 放射光によるエネルギーデバイス材料の構造解析
HP-05 濱田　糾 パナソニック電工（株） 機能ミストを付与した毛髪キューティクルの解析評価と展開
HP-06 岡田 一幸 （株）東レリサーチセンター GＩ-SAXSによるHfシリケートの構造解析
HP-07 江口　健一郎 （株）白石中央研究所 SAXS/WAXS同時測定による炭酸カルシウム微細粒子生成過程のその場観察
HP-08 妹尾　政宣 住友ベークライト（株） 放射光を利用したナノ粒子複合透明基板の構造解析
HP-09 橋本　琢人 兵庫県立大学 大視野高空間分解能X線CTの開発
HP-10 堀川　智之 兵庫県立大学 Strained-Si/SiGe 結晶の同一位置における高平行度X線マイク ロビーム回折とマイクロラマン分光による歪み評価
HP-11 大野　知佐 兵庫県立大学 放射光分岐分光用結晶の評価
HP-12 内海　裕一 兵庫県立大学 3次元集積化マイクロ流路による高機能“Lab-on-a-Chip”の開発
HP-13 西原　克浩 住友金属工業(株） 溶融Zn-Al系めっき上腐食生成皮膜の構造解析
HP-14 渡邊　健夫 兵庫県立大学 EUV干渉露光によるナノパタン形成
HP-15 木下　博雄 兵庫県立大学 位相差ＥＵＶ顕微鏡を用いたＥＵＶマスク観察
HP-16 服部　正 兵庫県立大学 狭ピッチ高アスペクト比Ｘ線格子の作製

蛋白質構造解析コンソーシアム
No. 発表代表者 所属 題名
P01 鈴木　健司 蛋白質構造解析コンソーシアム 創薬産業BL(BL32B2)の現状と蛋白コンソの活動

SPring-8利用推進協議会
No. 発表代表者 所属 題名
R01 永田　正之 JASRI SPring-8利用推進協議会の紹介