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第9回 SPring-8産業利用報告会
趣旨および概要

  (公財)高輝度光科学研究センター(JASRI)は産業の振興への貢献を大切な使命と考え、共用ビームラインを用いて産業界ユーザーに積極的な支援を行なっております。また、いくつかの専用ビームラインでも広範な産業利用が行なわれています。 
 今年も、SPring-8での産業利用成果の発表を通じて、産業界における放射光の有効性を多くの方に知っていただくとともに、産業界ユーザーの相互交流を目的とする産業利用報告会を9月6、7日に愛知芸術文化センターで行います。
 本報告会は産業用専用ビームライン建設利用共同体(サンビーム)、兵庫県、豊田中央研究所、JASRIそれぞれの発表会(報告会)をジョイントして構成したもので、口頭発表・ポスター発表および技術交流会を行ないます。
 最近の産業利用状況・成果を知るのに絶好の機会ですので奮ってご参加ください。

主催

(公財)高輝度光科学研究センター(JASRI)
産業用専用ビームライン建設利用共同体(SUNBEAM CONSORTIUM)
兵庫県
(株)豊田中央研究所

共催

SPring-8利用推進協議会
愛知県
(公財)科学技術交流財団

協賛

フロンティアソフトマター開発専用ビームライン産学連合体

日時

2012年9月6日(木) 12:00〜17:10 技術交流会 17:30〜19:00
2012年9月7日(金) 10:00〜15:30 

会場

愛知芸術文化センター12階(名古屋市東区東桜1丁目13番2号)
  口頭発表   : 12階 アートスペースA  ポスターセッション:12階 アートスペースG・H
  技術交流会 : 10階 「ウルフギャング・パック レストラン&カフェ」
アクセス :愛知芸術文化センター http://www.aac.pref.aichi.jp/facility/access.html
       :ウルフギャング・パック レストラン&カフェhttp://www.aac.pref.aichi.jp/facility/restaurant.html#wp-japan         

参加費
 無料(配布資料あり)
    技術交流会参加費 2,000円

申込方法

8月29日(水)17時をもちまして、締め切りました。
参加希望の方につきましては industry@spring8.or.jpまで ご連絡ください。


問合せ先
SPring-8産業利用報告会 事務局
(公財)高輝度光科学研究センター 垣口 伸二、吉川 史津
Tel:0791-58-0987,Fax:0791-58-0988
e-mail : industry@spring8.or.jp
定員
200名程度

プログラム

9月6日(1日目)
セッション1:挨拶
12:00-12:10
主催者代表挨拶
(公財)高輝度光科学研究センター 理事長  白川 哲久
セッション2:サンビーム研究発表会
12:10-12:15
矢野 映
(株)富士通研究所
サンビーム共同体運営委員長 挨拶
12:15-12:30
淡路 直樹
(株)富士通研究所
富士通研究所におけるSPring-8放射光の利用
12:30-12:50
瀬尾 眞浩
(株)神戸製鋼所
Ni表面にUPDしたPb単分子層のin-situ XAFS解析
12:50-13:10
飯原 順次
住友電気工業(株)
低環境負荷タングステンリサイクル技術開発
13:10-13:30
細井 慎
ソニー(株)
RuPtコアシェルナノ粒子のXAFS解析
13:30-13:50
今井 英人
日産自動車(株)
In situ XAFSと第一原理計算によるLiイオン電池充放電挙動の解析
13:50-14:10
平野 辰己
(株)日立製作所
XASによるリチウム電池正極材の価数分布評価
休憩 14:10-14:20
セッション3:JASRI産業利用分野、重点産業利用課題実施報告
14:20-14:44
牧野 泰三
住友金属工業(株)
高強度鋼の転動疲労下のはく離損傷および内部き裂形態の観察
14:44-15:08
佐藤 眞直
JASRI
(実験責任者:(株)原子力安全システム研究所 有岡 孝司)
白色X線マイクロビーム、2次元検出器と半導体検出器を用いたセテンレス鋼の結晶粒界応力分布測定
15:08-15:32
片岡 恵太
(株)豊田中央研究所
HAXPESによる半導体のバンド曲がりの評価
15:32-15:56
飯村 兼一
宇都宮大学
固/水界面における毛髪コンディショナー吸着膜構造解析のためのX線反射率測定システムの構築
15:56-16:20
犬飼 浩之
(株)ノリタケカンパニーリミテド
酸素透過膜および固体酸化物形燃料電池に用いるAg触媒複合化したペロブスカイト酸素イオン伝導材料のin situ XAFS解析
セッション4:豊田中研成果報告会
16:30-16:50
長井 康貴
(株)豊田中央研究所
自動車用三元触媒 〜Rhの粒成長抑制とRh-担体相互作用〜
16:50-17:10
野中 敬正
(株)豊田中央研究所
Liイオン電池の昇温XAFS・XRD解析
移動 17:10-17:30
技術交流会 17:30-19:00 10階「ウルフギャング・パック レストラン&カフェ」(愛知芸術文化センター)


9月7日(2日目)
セッション5:兵庫県成果報告会
10:00-10:05
松井 純爾
兵庫県放射光ナノテク研究所
挨拶
10:05-10:25
立石 純一郎
(株)アシックス
X線CTを用いた圧縮負荷下におけるポリマーフォームの気泡構造観察
10:25-10:45
首藤 靖幸
住友ベークライト(株)
ナノシリカ分散フィルムの透明性・構造発色性発現機構の解明
10:45-11:05
東口 光晴s
旭化成(株)
オレフィン系部分酸化触媒の焼成過程解析
11:15-11:35
高橋 照央
(株)住化分析センター
放射光を利用したエネルギーデバイス材料の構造解析
11:35-11:55
内海 裕一
兵庫県立大学
フルプロトコル多項目検査のための積層型Lab-on-a-CDの開発
昼食 12:00-13:00
ポスターセッション
13:00-15:30
発表件数 約80件
(終了)
※終了後、希望者のみ(定員100名)  
    16:30-17:30「知の拠点あいち」シンクロトロン光利用施設見学
     ・見学会への移動バスを2台用意しております。
     ・参加決定者には、後日ご連絡させていただきます。

ポスターセッション

2012年9月7日(金) 13:00-15:30

場所

アートスペースG・H

JASRI
No.
発表代表者 所属 題名
J-01 水崎 智輝
実験責任者:高木 由紀夫
エヌ・イーケムキャット(株) ニトリル化合物の水素化による1級アミンの選択的合成用触媒の開発
J-02 水崎 智輝
実験責任者:高木 由紀夫
エヌ・イーケムキャット(株) 鈴木カップリング用固定化分子触媒の開発
J-03 金田清臣,水垣共雄
実験責任者:金田清臣
大阪大学太陽エネルギー
   化学研究センター
バイオマス由来化合物の選択的変換用固定化銅ナノ粒子触媒の開発
J-04 畠山 琢次 京都大学化学研究所 in-situ XAFS測定による鉄触媒クロスカップリング反応の触媒活性種の同定
J-05 岸田 佳大 (株)豊田中央研究所 非化学量論組成コバルト酸リチウムの温度による結晶構造変化
J-06 藪内 直明
実験責任者:駒場 慎一
東京理科大学 硬X線光電子分光によるマンガン系リチウム電池材料の電子状態測定
J-07 岡本 薫 (株)三菱化学科学技術研究センター マイクロXAFSによる自動車用リチウムイオン電池正極材の解析
J-08 嶺重 温 兵庫県立大学 鉄の極微量添加がもたらすイオン伝導性酸化物の安定性向上機構解明に向けたXAFS測定
J-09 是澤 亮
実験責任者:宇高 義郎
横浜国立大学大学院工学研究院 固体高分子形燃料電池用微細多孔体中の酸素拡散と液水挙動の同時計測手法の開発
J-10 羽鳥 公一 曙ブレーキ工業株式会社 高分解能X線CTによるブレーキ摩擦材中の空隙解析
J-11 発表取り下げ 発表取り下げ 発表取り下げ
J-12 小林 幹弘
実験責任者:西本 哲朗
(株)ユメックス XAFSによる深紫外光源用Gd添加AlN薄膜の局所構造解析
J-13 藤原 康文 大阪大学大学院工学研究科 X線吸収微細構造測定によるEu添加GaNにおけるEuイオンの周辺局所構造の評価
J-14 小林 義徳 日立金属(株) 中性子回折、EXAFS、XMCDを用いたSrLaCo系M型フェライトの陽イオン分布解析
J-15 桜庭 裕弥 東北大学金属材料研究所 異常分散効果を用いたX線回折によるハーフメタルホイスラー合金Co2MnSiの構造と原子規則に関する研究
J-16 水口 将輝 東北大学金属材料研究所 X線回折によるL10型FeNi超格子の構造評価
J-17 小池 真司 日本電信電話(株)
   NTTフォトニクス研究所
レーザ融着光ファイバ結晶化の高輝度放射光μCT観測
J-18 発表取り下げ 発表取り下げ 発表取り下げ
J-19 山田 知典 (独)日本原子力研究開発機構 レーザー溶接標準化に向けた放射光X線による溶融池内流動場のその場観察
J-20 長村 光造 (公財)応用科学研究所 REBCO(RE=Y, Dy and Gd)コーテッドコンダクターにおける微細双晶と局所歪の異常性
J-21 町屋 修太郎 大同大学 超電導機器応用に向けた実用超伝導線材の不均一性に関連した応力/ひずみ問題の解明
J-22 清水 克哉 大阪大学
   極限量子科学研究センター
超高圧合成六方晶ダイヤモンドの安定性の研究
J-23 菅原 洋子 北里大学 水和物結晶多形観測のための高温高湿度下in-situ 粉末X線回折測定技術検証
J-24 飯村 兼一 宇都宮大学 固/水界面における毛髪コンディショナー吸着膜構造解析のためのX線反射率測定システムの構築
J-25 山下 真由
実験責任者:坂 貞徳
日本メナード化粧品(株) 化粧品製剤の皮膚浸透性に関する研究
J-26 小幡 誉子 星薬科大学 皮膚角層細胞間脂質のラメラ周期変化と経皮吸収型製剤成分の構造記述子の関連
J-27 秋葉 勇 北九州市立大学 小角X線散乱による石鹸-ウィルス間の相互作用の研究
J-28 原 滋郎 浜松ホトニクス(株) 高分子フォトニック結晶の構造解析



豊田中央研究所
No. 発表代表者 所属 題名
T-01 堂前 和彦 (株)豊田中央研究所 豊田ビームラインの現状
T-02 林 雄二郎 (株)豊田中央研究所 走査型3DXRD顕微鏡法の開発
T-03 山口 聡 (株)豊田中央研究所 二次元検出器を利用した機能性材料の小角散乱測定
T-04 畑中 達也 (株)豊田中央研究所 燃料電池用電極触媒のOperando-XAFS解析:発電中のPt酸化状態
T-05 木村 英彦 (株)豊田中央研究所 異種材料接合体の内部残留ひずみ分布計測
T-06 青木 良文 (株)豊田中央研究所 時分割XAFSによるEPDMゴムの架橋応速度解析
T-07 光岡 拓哉 (株)豊田中央研究所 バクテリア還元鉄の金属吸着機構のXAFS解析

兵庫県
No.
発表代表者 所属 題名
H-01 (公財)ひょうご科学技術協会 (公財)ひょうご科学技術協会 兵庫県ビームラインの現状紹介
H-02 鶴田 宏樹 神戸大学 新しい創薬研究ネットワークと放射光利用
H-03 首藤 靖幸 住友ベークライト(株) ナノシリカ分散フィルムの透明性・構造発色性発現機構の解明
H-04 鈴木 拓也 (株)三菱化学科学技術研究センター 有機薄膜太陽電池の構造解析
H-05 尾身 博雄 NTT物性科学基礎研究所 シリコン基板上でのツリウムシリケイトの形成と発光特性
-シリコンフォトニクス用光増幅器の広帯域化を目指して-
H-06 桐野 文良 東京藝術大学 唐津焼釉薬の色彩に関する電子論的研究
H-07 桐野 文良 東京藝術大学 Fe系釉薬の色彩に及ぼす融剤の影響
H-08 中野 真也 日東電工(株) 4D X線CT観察技術を用いた発泡機構の解明
H-09 立石 純一郎 (株)アシックス X線CTを用いた圧縮負荷下におけるポリマーフォームの気泡構造観察
H-10 嶺重 温 兵庫県立大学 燃料電池用酸化物電解質に極微量に存在する鉄のマイクロビームによる観測
H-11 大江 裕彰 東洋ゴム工業(株) 加硫操作時におけるゴム材料の配向とその物性
H-12 戸田 昭夫 日本電気(株) リチウムイオン二次電池正極0.7Li2MnO3・0.3LiFeO2のXAS分析
H-13 田沼 良平 電力中央研究所 X線3Dトポグラフィーによる4H-SiCの基底面転位および貫通刃状転位のイメージング
H-14 西野 孝
小寺 賢
神戸大学 微小角入射X線回折法によるポリーαーオレフィン/接着剤界面の微細構造の評価
H-15 山本 友之 日本合成化学工業(株) 小角X線散乱によるアクリル系エマルジョン粒子およびフィルムの構造解析
H-16 東口 光晴 旭化成(株) オレフィン系部分酸化触媒の焼成過程解析
H-17 高橋 照央 (株)住化分析センター 放射光を利用したエネルギーデバイス材料の構造解析
H-18 潰田 明信 兵庫県立大学 ニュースバルBL-10における軽元素材料の軟X線吸収分析(1)
分光特性 評価と姫路城いぶし瓦の分析」
H-19 原田 哲男 兵庫県立大学 コヒーレントスキャトロメトリー顕微鏡による位相像再生
H-20 内田 健太郎 兵庫県立大学 16nm世代以降に適用できるEUVリソグラフィマスク検査用顕微鏡の開発
H-21 片山 和弘 兵庫県立大学 アンジュレータ光によるinsituコンタミ膜厚評価
H-22 内海 裕一 兵庫県立大学 放射光を用いたフルプロトコル多検体検査のための3次元Lab on a Chipの開発
H-23 澤田 沙希 兵庫県立大学 X線導波路ラウエレンズの開発
H-24 硲 和輝 兵庫県立大学 産業利用向けマイクロXAFSの整備
H-25 東 宏昭 兵庫県立大学 低N.A照明光学系を用いた結像型硬X線暗視野顕微鏡の開発
H-26 下村 翔 兵庫県立大学 軽元素試料観察のための走査型硬X線顕微鏡開発

サンビーム
No. 発表代表者 所属 題名
S-01 中山 耕輔 川崎重工業(株) XAFSを用いた系統連系用大型Ni-MH電池の材料評価
S-02 瀬尾 眞浩 (株)神戸製鋼所 Ni表面にUPDしたPb単分子層のin-situ XAFS解析
S-03 北原 周 (株)神戸製鋼所 小角散乱法による金属ナノ粒子の評価
S-04 飯原 順次 住友電気工業(株) 低環境負荷タングステンリサイクル技術開発
S-05 細井 慎 ソニー(株) RuPtコアシェルナノ粒子のXAFS解析
S-06 越谷 直樹 ソニー(株) 有機半導体薄膜のX線回折法による構造評価
S-07 出口 博史 関西電力(株) 二酸化炭素吸収液用アルカノールアミン分子の配座解析
S-08 秋保 広幸 (一財)電力中央研究所 水溶性セレン化学種のXAFS解析
S-09 吉木 昌彦 (株)東芝 低温全反射XAFSによる絶縁薄膜の局所構造解析
S-10 浅田 崇史 (株)豊田中央研究所 放射光CTによるパワーモジュール内部変形計測
S-11 小坂 悟 (株)豊田中央研究所 波長分散法によるPd中不純物の蛍光X線分析
S-12 宮野 宗彦 日亜化学工業(株) 二次元検出器を用いたLEDチップの残留応力評価
S-13 今井 英人 日産自動車(株) In situ XAFSと第一原理計算によるLiイオン電池充放電挙動の解析
S-14 平岩 美央里 パナソニック(株) InGaN単一量子井戸構造における相分離の評価
S-15 平野 辰己 (株)日立製作所 XAFSによるリチウム電池正極材の価数分布評価
S-16 米山 明男 (株)日立製作所 マイクロビーム走査型X線顕微鏡による肝細胞の観察
S-17 淡路 直樹 (株)富士通研究所 富士通研究所におけるSPring-8放射光の利用
S-18 土井 修一 (株)富士通研究所 微小角入射X線回折による有機薄膜太陽電池の構造評価
S-19 上原 康 三菱電機(株) 酸化亜鉛結晶薄膜のZn-K吸収端分光における偏光依存性評価
S-20 南部 英 XAFS装置SG サンビームXAFS装置の現状
S-21 高尾 直樹 イメージングSG サンビームにおける2次元XAFS法の検討


注意事項

@ 愛知芸術文化センター館内では禁煙となっておりますので、喫煙はご遠慮ください。
A 口頭発表・ポスター発表の各会場並びにロビーでは原則として飲食禁止となっております。
昼食あるいは、ジュース等の容器の飲み物を持ち込むことはできませんので予めご了承ください。
なお、ペットボトル等は水又はお茶に限り持ち込み可としておりますが、会場並びにロビーには、ゴミ箱はございませんので、ゴミは各自持ち帰るようお願いいたします。
B 飲食につきましては、館内レストラン、近郊に飲食街オアシス21がございますので、そちらをご利用ください。
http://www.aac.pref.aichi.jp/facility/restaurant.html
http://www.sakaepark.co.jp/
C 口頭発表・ポスター発表の各会場内は主催者許可者以外の写真撮影は厳禁とさせていただきます。


申込方法

8月29日(水)17時をもちまして、締め切りました。
参加希望の方につきましては industry@spring8.or.jpまで ご連絡ください。


問合せ先
SPring-8産業利用報告会 事務局
(公財)高輝度光科学研究センター 垣口 伸二、吉川 史津
Tel:0791-58-0987,Fax:0791-58-0988
e-mail : industry@spring8.or.jp