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第4回SPring-8産業利用報告会
締め切りました
主催(50音順)

(財)高輝度光科学研究センター(JASRI)
産業用専用ビームライン建設利用共同体(SUNBEAM CONSORTIUM)
(財)ひょうご科学技術協会(HSTA)

共催

SPring-8利用推進協議会

日時

2007年09月11日(火)10:00-18:00(技術交流会:18:30-20:00)

2007年09月12日(水)10:00-16:00

会場

 総評会館(東京都千代田区神田駿河台3-2-1)
アクセス :http://www.sohyokaikan.or.jp
 

講演会場  :2階 大会議室

ポスター会場  :4階 401・402室

概要

(財)高輝度光科学研究センター(JASRI)は産業の振興への貢献を大切な使命と考え、共用ビームラインを用いて産業界ユーザーに積極的な支援を行なっております。また、いくつかの専用ビームラインでも広範な産業利用が行なわれています。 今年も、SPring-8での広汎な産業利用成果の発表を通じて、産業界における放射光の有効性を多くの方に知っていただくとともに、産業界ユーザーの相互交流を目的とする産業利用報告会を9月11、12日に総評会館(東京・御茶ノ水)で行います。本報告会は産業用専用ビームライン建設利用共同体(サンビーム)、兵庫県、JASRIそれぞれの発表会(報告会)をジョイントして構成したもので、口頭発表・ポスター発表および合同懇親会を行ないます。  最近の産業利用状況・成果を知るのに絶好の機会ですので奮ってご参加ください。 なお、今回は放射光の最先端の成果をご紹介いただく2件の招待講演も予定しております。初の東京開催でもありますので、例年にも増して多数の皆様にご参加いただきたく思います。


定員

250名  定員になり次第締め切ります。

参加費

 無料(配布資料あり) 技術交流会参加費 : 3000円

申込方法

受付終了致しました。

申込締切

 2007年9月4日(火)12:00

プログラム

<9月11日(火)>

    
1.挨拶
10:00-10:08 主催者挨拶(1) 高輝度光科学研究センター 吉良 爽 (高輝度光科学研究センター理事長)
10:08-10:16主催者挨拶(2) ひょうご科学技術協会 千川 純一(兵庫県立先端科学技術支援センター長)
10:16-10:24 主催者挨拶(3) 産業用専用ビームライン建設利用共同体 林 栄治 (産業用専用ビームライン建設利用共同体運営委員長) (関西電力)
10:24-10:30 来賓挨拶     文部科学省 林 孝浩 (文部科学省研究振興局基礎基盤研究課 大型放射光施設利用推進室長, 量子放射線研究推進室長)
2.利用成果等報告(口頭発表)
○産業用専用ビームライン
10:30-10:55 リチウムイオン電池正極材料のXAFS解析 野中 敬正(豊田中央研究所)
10:55-11:20 斜入射X線回折法によるガスクラスターイオンビーム加工の表面損傷の評価 平野 辰巳(日立製作所)
11:20-11:45 X線3Dトポグラフィー用特殊スリット(V-slit)の評価 田沼 良平(富士電機アドバンストテクノロジー)
11:45-12:10 L特性X線を用いた第6周期元素化合物の状態分析法の検討 上原 康(三菱電機)
12:10-13:15 【昼食】
13:15-13:40 Ni薄膜のマイクロ蛍光XAFS分析 尾崎 伸司(松下電器産業)
13:40-14:05 溶融塩浴からのタングステン電析技術とXAFSを利用した浴分析 新田 耕司(住友電気工業)
14:05-14:10 【休憩】
○SPring-8共用ビームライン
14:15-14:40 微小角入射X線散乱(GIXS)によるDLC膜の構造解析 伊関 崇(豊田中央研究所)
14:40-15:05 ナノ触媒金属微粒子から成長した単層カーボンナノチューブの硬X線光電子分光 及び微小角入射X線回折による研究 二瓶 瑞久(富士通研究所)
15:05-15:30 SiC上に形成したグラファイト薄膜のSPELEEM観察 日比野 浩樹(NTT物性科学基礎研究所)
15:30-15:35 【休憩】
15:35-16:05 突起状を滑るゴムの変形挙動に関する研究 網野 直也 (横浜ゴム)
16:05-16:30 Zn-Al合金の凝固組織形成過程の直接観察に関する研究 原田 寛(新日本製鐵)
16:30-16:55 放射光CTイメージングによるNi基合金中の応力腐食割れ(SCC)き裂の検出 中東 重雄(発電設備技術検査協会)
16:55-17:00 【休憩】
○兵庫県ビームライン
17:00-17:15 マイクロビームX線3Dトポグラフィー 田沼 良平(富士電機アドバンストテクノロジー)
17:15-17:30 極薄SOI基板の酸化プロセスのその場観察 尾身 博雄(NTT物性科学基礎研究所)
17:30-17:45 兵庫県ビームラインにおける粉末X線回折装置の現状 前原 一宣(ニッテクリサーチ)
17:45-18:00 高温電気化学反応を対象とするXAFSを用いたその場観察 梅咲 則正(JASRI)
3.技術交流会(18:30-20:00)(希望者のみ)

<9月12日(水)>

3
1.招待講演
10:00-10:45 SPring-8での先端的構造科学のための計測技術開発 ー精密電子密度計測から時分割構造計測までー 高田 昌樹(JASRI)
10:45-11:30 測るものづくり〜コンプトン散乱で調べる垂直磁化膜 櫻井 浩(群馬大学)
11:30-12:30 【昼食】
2.利用成果等報告(ポスター発表)
コアタイム 12:30-14:00 (ポスターは9/11 13:00から9/12 16:00まで掲示)
14:00-14:20 【休憩】
3.利用成果等報告(口頭発表)
○兵庫県ビームライン(地域結集型共同研究事業成果発表)
14:20-14:30 イントロダクション 中前 勝彦(共同研究事業・研究統括)
14:30-14:50 兵庫県ビームライン(BL08B2)全体の概要 横山 和司(放射光ナノテク研究所)
14:50-15:05 高エネルギー光電子分光法の開発について 池永 英司(JASRI)
15:05-15:20 放射光を利用したナノ粒子分散系の構造解析 竹内 健(住友ベークライト)
15:20-15:35 微小角入射X線回折による液晶配向膜表面の分子配向評価 広沢 一郎(JASRI)
15:35-15:50 SAXS装置の性能と金属ナノ粒子形成過程観察への応用 桑本 滋生(放射光ナノテク研究所)
4.閉会のあいさつ(15:50)


ポスター配置図はこちらをご覧下さい

ポスター発表
番号 ○産業用専用ビームライン(SUNBEAM)
S1 高エネルギーX線を用いた残留γ測定 北原 周(神戸製鋼所)
S2 Fe人工さび初期生成過程のその場観察実験 河野 研二(神戸製鋼所)
S3 溶融塩浴からのタングステン電析技術とXASFを利用した浴分析 新田 耕司(住友電気工業)
S4 希土類添加SiO2ガラスファイバの構造解析 斎藤 吉広(住友電気工業)
S5 アニール処理したGaInN量子井戸のXAFS解析 工藤 喜弘(ソニー)
S6 放射光を利用した微量元素の分析技術 山本 融(電力中央研究所)
S7 低温作動固体酸化物形燃料電池実用サイズセルの歪み評価 出口 博史(関西電力)
S8 XAFSによるランタンアルミネート膜の構造解析 吉木 昌彦(東芝)
S9 リチウムイオン電池正極材料のXAFS解析 野中 敬正(豊田中央研究所)
S10 リチウムイオン二次電池正極材料の構造解析 吉田 泰弘(日亜化学工業)
S11 時分割 in situ X線回折による燃料電池触媒の表面構造解析 今井 英人(日本電気)
S12 in situ XRDおよびXAFSによるPd微粒子水素吸蔵過程の直接観測 松本 匡史(日本電気)
S13 斜入射X線回折法によるガスクラスターイオンビーム加工の表面損傷の評価 平野 辰巳(日立製作所)
S14 BL-16B2におけるイメージングXAFSの試み 米山 明男(日立製作所)
S15 X線トポグラフ法によるLSIパッケージ内部の応力評価 野村 健二(富士通研究所)
S16 X線3Dトポグラフィー用特殊スリット(V-slit)の評価 田沼 良平(富士電機アドバンストテクノロジー)
S17 Ni薄膜のマイクロ蛍光XAFS分析 尾崎 伸司(松下電器産業)
S18 L特性X線を用いた第6周期元素化合物の状態分析法の検討 上原 康(三菱電機)
S19 X線反射率測定によるラジカル酸化SiO2膜の密度評価 河瀬 和雅(三菱電機)
番号 ○兵庫県ビームライン
H1 兵庫県ID BL24XUハッチC1における空間コヒーレンスの評価 辻 卓也(兵庫県立大学)
H2 X線高速カメラを利用した高速X線CTおよび4次元観察への応用 吉田 圭佑(兵庫県立大学)
H3 放射光分岐分光用サファイア単結晶の設計と評価 阿部 麻衣子(兵庫県立大学)
H4 高平行度X線マイクロビームを用いた光導波路用結晶の結晶性評価 高畑 小百合(兵庫県立大学)
H5 兵庫県IDの今後の展開 〜ビームライン改造計画〜 津坂 佳幸・高野 秀和(兵庫県立大学)
H6 BL08B2におけるXAFSの現状と今後の展開 野瀬 惣市(放射光ナノテク研究所)
H7 BL08B2小角X線散乱装置の紹介とNPC試料への応用 桑本 滋生(放射光ナノテク研究所)
H8 ナノ粒子水溶液の極小角X線散乱測定による構造解析 藤村 栄作(兵庫県立大学)
H9 高解度分解能型粉末回折計の開発 横山 和司(放射光ナノテク研究所)
H10 ラボ系・高分解能顕微鏡によるナノ構造材料の分析評価 李 雷・漆原 良昌(放射光ナノテク研究所)
H11 モーターサイクル排ガス触媒の劣化機構の解明 清瀧 元(川崎重工業)
番号 ○SPring-8共用ビームライン
J01 微小角入射X線散乱(GIXS)によるDLC膜の構造解 伊関 崇(株)豊田中央研究所
J02 ナノ触媒金属微粒子から成長した単層カーボンナノチューブの硬X線光電子分光及び微小角入射X線回折による研究 二瓶 瑞久(富士通研究所)
J03 SiC上に形成したグラファイト薄膜のSPELEEM観察 日比野 浩樹(NTT物性科学基礎研究所)
J04 突起状を滑るゴムの変形挙動に関する研究 網野 直也(横浜ゴム)
J05 Zn-Al合金の凝固組織形成過程の直接観察に関する研究 原田 寛(新日本製鐵)
J06 放射光CTイメージングによるNi基合金中の応力腐食割れ(SCC)き裂の検出 中東 重雄(発電設備技術検査協会)
J07 高エネルギー光電子分光法によるZnS-SiO2 薄膜の評価 安福 秀幸(リコー)
J08 放射性廃棄物処分場コンクリートの,微細空隙と構成物質の空間分布把握の研究 人見 尚(大林組)
J09 Single photon counting 型2次元検出器:PILATUSを用いた放射光利用研究の紹介 佐藤 眞直(JASRI)
J10 白色X線マイクロビームと二次元検出器を用いたステンレス鋼の結晶粒界分布測定方法の開発 梶原 堅太郎(JASRI)
J11 伸張における毛髪微細構造変化のX線構造解折 柿澤 みのり(資生堂)
J12 マイクロビームX線回折法を用いたヒト毛髪の水溶液中での構造の解析:染色促進剤の毛髪構造に与える影響 井上 敬文(カネボウ化粧品)
J13 真性歪を最適化したReBCO Coated Conductorの結晶成長 長村 光造(応用科学研究所)
J14 固体酸化物形燃料電池セルの発電時残留応力測定 矢加部 久孝(東京ガス)
J15 高移動度LSIに用いられるSiN歪印加膜の密度評価 斉藤 博之(明治大学)
J16 sc-SSOI(超臨界膜厚SSOI)の評価 吉田 哲也(明治大学)
J17 超微細加工レジスト材料のナノスケール密度分布の解明  岩井 武(東京応化工業)
J18 液晶配向膜の結晶化度・分子配向と、液晶ディスプレイ特性との相関解析 酒井 隆宏(日産化学工業)
J19 銀イオンのコーティングによる洗濯衣類の抗菌防臭メカニズムに関する研究 小西 康裕(大阪府立大学)
J20 抗菌性コントロールサンプル構築のためのタンパク質 銀複合体表面のXAFS解析 藤本 嘉明(抗菌製品技術協議会)
J21 ヒ素汚染物の加熱処理時におけるヒ素の化学形態の解明 原田 浩希(日立造船)
J22 SPring-8産業利用UビームラインBL14B2(XAFS)の紹介 本間 徹生(JASRI)
J23 企業放射光研究と共に歩む大学院先端基礎科学教育 野上 由夫・池田 直・原田 勲(岡山大学) 他
J24 重点産業課題及びXAFS測定代行課題のご案内 JASRI 産業利用推進室
R01 利用推進協議会のご紹介 利用推進協議会(利用推進協議会)
R02 利用推進協議会のご紹介 利用推進協議会(利用推進協議会)

問合せ先

事務局
(財)高輝度光科学研究センター
研究調整部 研究業務課 産業利用推進室担当事務 垣口、濱中
Tel:0791-58-0839 Fax:0791-58-0988 e-mail : workshops@spring8.or.jp