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締め切りました。
<産業利用に役立つXAFSによる先端材料の局所状態解析>
概要

XAFS(X線吸収微細構造)スペクトル解析法の概略や注意点、産業利用に関連した先端材料の解析例について学び、 XAFSスペクトルのデータ処理やFEFFを用いたシミュレーションの実習を行います。

主催

(財)高輝度光科学研究センター(JASRI)

共催

SPring-8 利用推進協議会「産業利用研究会」

後援

日本XAFS研究会、 SPring-8利用者懇談会「X線スペクトロスコピー研究会」

日時

2007年 1月 31日(水) 10:30 〜 2月 1日(木)16:00 

会場

キャンパス・イノベーションセンター 東京地区 1F国際会議室  電話 : 03-4212-6321 (代表)
アクセス : http://www.zam.go.jp/e00/e0000900.htm#a00を参照
技術交流会 (参加費 : 2,000円)

プログラム
     
時間 講義/実習 内容 講演者
1月31日
10:30 - 10:50 講義 SPring-8における産業利用について 渡辺義夫(JASRI)
10:50 - 12:30  実習 XAFS解析プログラムの概要説明
※実習用PC(Windows)、解析ソフト等はこちらで用意したものを使用致します。
屋代恒(リガク)
12:30 - 13:30 (昼食 60分)
13:30 - 15:00 講義 FEFFの実際 -触媒解析を例として- 朝倉清高(北海道大)
15:00 - 15:20 (休憩 20分)
15:20 - 17:20実習 XAFSデータ解析(FEFFを含む)実習 (チュートリアル形式)
※標準試料(結晶)、燃料電池電極触媒、二次電池用電極材料
屋代恒(リガク)
17:20 - 18:50講義 相変化材料Ge2Sb2Te5の構造に光を投じる -フリーウェアathenaとartemisによるXAFSデータ解析- Paul Fons (産業総合研究所)
19:00 - 20:30 技術交流会
2月1日
10:00 - 11:30 講義 XANESで何が分かるか?-XANES解析事例紹介- 吉田朋子(名古屋大)
11:30 - 12:30 (昼食 60分)
12:30 - 14:00 講義 XAFS解析の落とし穴 渡辺巌(大阪府立大)
14:20 - 16:00 実習 デモデータもしくは持ち込みデータによるEXAFS解析

対象者

・ XAFS測定・解析の経験があり、スペクトル解析方法について詳しく知りたい方

定員

40名 (ただし1台のPCを2名でご利用頂くことになります) 定員になり次第締め切ります。
申込者多数の場合は、当方での調整に一任願います。  調整後、申込者に参加の可否についてご連絡致します。 同じ所属の方が参加を希望される場合、最大2名とし先着順とさせて頂きます。 <実習用にはPC20台を用意する予定です>

参加費

無料

申込方法

締め切りました。

その他

・ 注意事項 講習会参加者は下記の文献(特にEXAFSスペクトルの解析方法)を参照してきて下さい。
   ※初級・中級レベルを想定しているためEXAFSスペクトルの基本的な解析方法についての講義はございません。
   宇田川康夫編 『X線吸収微細構造 XAFSの測定と解析』 学会出版センター
   大田俊明編 『X線吸収分光法 −XAFSとその応用−』 アイピーシー
・ データの持込みは可能です。ただし、データの形式はSPring-8、Photon Factory、Ritsで標準的に使用されているものに限ります。(データ形式、時間の都合により、解析が行えない場合もあります。)メディアは、USBフラッシュメモリまたはCD-Rでお願いします。

問合せ先

講習会担当
(財)高輝度光科学研究センター
産業利用推進室  本間、 TEL:0791-58-0802 ex.3508、 e-mail:honma@spring8.or.jp
利用研究促進部門 宇留賀、 TEL:0791-58-0802 ex.3836、 e-mail:urugat@spring8.or.jp
利用研究促進部門 谷田、 TEL:0791-58-0802 ex.3880、 e-mail:tanida@spring8.or.jp

事務局
(財)高輝度光科学研究センター
研究調整部 研究業務課 産業利用推進室担当事務 垣口、笠原
Tel:0791-58-0839 Fax:0791-58-0988 e-mail : workshops@spring8.or.jp