SPring-8利用手法毎に設定したテーマを基に、最先端の利用技術・実験手順の説明・解説が行われます。
開催予定
過去の開催
| 開催日 | 目的・内容 |
| 2012/01/12-13 | 産業利用に役立つＸＡＦＳによる先端材料の局所状態解析2012 |
| 2011/08/04 | XAFSデータ解析講習会2011 |
| 2011/1/13-14 | 産業利用に役立つＸＡＦＳによる先端材料の局所状態解析2011
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| 2010/10/20 | XAFSデータ解析講習会2010 |
| 2010/01/13-14 | 産業利用に役立つＸＡＦＳによる先端材料の局所状態解析2010 |
| 2009/08/21 | XAFSデータ解析講習会2009 |
| 2009/03/4 | 高輝度放射光を利用した光電子分光技術 −入門から応用例まで− |
| 2009/01/27-28 | 産業利用に役立つXAFSによる先端材料の局所状態解析2009 |
| 2008/01/17-18 | 産業利用に役立つXAFSによる先端材料の局所状態解析2008 |
| 2007/1/31-2/1 | 産業利用に役立つＸＡＦＳによる先端材料の局所状態解析 |
| 2006/07/19 | ソフトウエアＤＡＳＨを用いた有機粉末結晶構造解析 |
| 2006/02/21 | XAFSデータ解析 |
| 2005/06/10 | 放射光粉末X線データ解析 |
| 2004/08/26 | XAFSデータ解析 |
| 2004/08/05 | 表面・薄膜構造分析の最先端技術 |
| 2003/07/10 | 放射光の産業利用 |
| 2003/05/09 | XAFSデータ解析 |
| 2003/03/05 | 超LSI材料の高精度評価 |
| 2003/01/31 | 物質科学および生命科学におけるX線異常分散法の利用 |
| 2003/01/17 | 高分子産業界における放射光(SPring-8)利用 |
| 2002/12/19 | 燃料・2次電池の最先端技術 |
| 2002/10/11 | 放射光における応力評価 |
| 2002/07/23 | ストレージデバイス材料の物性評価 |
| 2002/03/27 | XAFSスペクトル解析法 |
| 2001/11/07 | 材料評価と放射光の利用 5 |
| 2001/10/18 | XAFS解析（ソフトウェア実習） |
| 2001/09/19 | 高分子材料と放射光(SPring-8)への期待 |
| 2001/08/24 | 材料評価と放射光の利用 4 |
| 2001/06/14 | 材料評価と放射光の利用 3 |
| 2001/02/21 | 材料評価と放射光の利用 2 |
| 2000/10/27 | 生体高分子結晶構造解析 ソフトウェアー操作法 |
| 2000/10/24 | 材料評価と放射光の利用 |