粉末X線回折装置として、BL02B2と同型の大型デバイシェラーカメラを第2ハッチ下流側に設置している。 使用可能なエネルギー範囲はSiの111面を用い7keV～31keV(波長約1.6Å～0.4Å) である。 実験前の装置調整に要する時間は、ミラー入射角変更がない場合は10分程度、 ミラーの入射角変更を伴う場合は1.5時間程度である。
　試料部には、高温低温実験に対応するべく窒素ガス吹付け型の低温装置および高温装置を備えており、 PCから遠隔制御が可能となっている。また、2009A期より、試料自動交換・センタリングシステムを導入し、 ビームタイムの効率的運用が可能となっている。
　RIGAKU製　大型デバイシェラーカメラ（カメラ半径：286.48mm）

・ビームサイズ	縦0.3mm x 横3.0mm
・試料温度制御装置	窒素ガス吹付け型　２種類（100K～450K, 300K～1000K）
・検出器	イメージングプレート （ 50μm=0.01°）
	読取装置：富士フィルム　BAS2500（オフライン読取）
・測定制御ソフト	SPEC

全自動試料交換・粉末回折測定システムJukeBox（動画）
温度変化測定 時間見積シート（Excel）
一次元化「ImageJ」プラグイン(Ver 3.31)（ZIP形式圧縮ファイル）
データ表示用グラフソフト Exray Plot Powder(Ver 1.72)（ZIP形式圧縮ファイル）
サンプルホルダー実寸大型紙ダウンロード（PDF）
キャピラリーの種類によるバックグラウンドの比較

「医薬品原薬の粉末回折測定」 /（JASRI）三浦 圭子
「Li電池負極材料の充放電に伴う微量析出物の同定」 /（福田金属）和田 仁
「水素化物MgTiHxの結晶構造解析」 /（JASRI）北野 彰子