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次世代蛍光体と放射光利用 −放射光による発光サイト評価−
テキスト　題目 PDF file 作成者
蛍光体材料開発の新展開 377KB 山元 明(東京工科大学)
放射光粉末X線回折による次世代蛍光体材料の結晶構造解析 864KB 山田 浩志(JST)
高輝度放射光によるXAFS測定法 78KB 宇留賀 朋哉(JASRI)
XAFSによるPDP用青色蛍光体BAMの熱劣化の検討 429KB 本間 徹生(JASRI)
XAFSを用いたGaInN薄膜中の局所構造解析 1.28MKB 宮嶋 孝夫（ソニー)
固体中に含まれる微量元素の局所構造解析における理論的取り組み 143KB 山本 知之(京都大学)

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