BL46XU　薄膜評価（GIXD/XRR）測定代行　ご相談フォーム
申込者氏名 ：
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以下、お決まりでない場合は空欄でかまいません

課題名 ：
実施希望時期 ： 　例： 2012年10月10日 〜 2012年12月1日
SPring-8運転スケジュールについては こちらをご覧ください。
BL46XU 薄膜評価（GIXD/XRR）測定代行スケジュールについては こちらをご覧ください。
実施希望時間 ： 　（※2時間単位）　例： 6時間
立会い希望 ： 無　 有　
立会い希望者の当該年度SPring-8放射線従事者登録 ：
未登録　 登録済

　実験内容について
測定予定試料の性質に関して必ずこちらをご確認ください → 化学物質の物性を確認できるサイト一覧
（※測定対象外となる試料について → リンクはこちら ）
測定試料の性質について上記内容を確認
測定試料 ：　膜構造(おおよその膜厚)※1 / 基板サイズ※2 / 個数※3 / 性質※4 / 安全対策※5
※1　シリコン基板やガラス基板などの平坦な基板に成膜した試料のみを対象とします．
※1　例1：　FeNi (20nm) / Au (5nm) / MgO基板
※1　例2：　ペンタセン (50nm) / SiO2 (300nm) / Si基板
※1　例3：　チオフェン誘導体高分子薄膜 (約100nm) / ITO (80nm) / ガラス基板
※2　5mm角以上，100mm角以下の基板サイズに調整してください．
※2　例：　10mm×15mm×厚み約1mm
※3　例：　5枚
※4　例：　毒物、劇物、有機溶剤、特定化学物質、毒性、可燃性、無害など
※5　例：　デシケータに保管し、破損時の漏洩対策を講じて慎重に取り扱う
試料1

測定内容 ：　試料毎の測定条件、入射角、スキャン軸、スキャン範囲、積算時間等
軸名の定義等や測定方法は こちらのページ を参照してください．
（例）　試料1： 入射角th=0.16°、tth=5°〜35°、Δtth=0.1°、積算1秒、ソーラースリット使用
※入射X線のエネルギーは原則 12.39keV（1Å）とします．
※一点あたりの積算時間は原則 1秒とします．

その他 ：　不明な点、ご質問などありましたらご記入ください

　

うまくいかない場合は、お手数ですが上記必要事項を明記の上、下記アドレスへご送信ください。
E-mail: daikou46-xrd@spring8.or.jp